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2022 - 2022 IEEE International Conference on Metrology for Extended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering (MetroXRAINE)
Esposito, Antonino; Braccili, Eleonora; Sgro, Federica; Chiarantano, Eleonora; D'Ippolito, Mariagrazia; Pisotta, Iolanda; Bigioni, Alessandra; Guerrieri, Antonio; Mattia, Donatella; Cincotti, Febo