Pubblicazioni
2024 - Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy XII
Cacciotti, Federico; Paiella, Alessandro; Avestruz, Camille; Basu Thakur, Ritoban; Battistelli, Elia S.; de Bernardis, Paolo; Bulbul, Esra; Columbro, Fabio; Coppolecchia, Alessandro; Cray, Scott; D'Alessandro, Giuseppe; De Petris, Marco; Hanany, Shaul; Lamagna, Luca; Lau, Erwin; Masi, Silvia; Pettinari, Giorgio; Piacentini, Francesco; Sayers, Jack; Zhuravleva, Irina
2023 - The Sixteenth Marcel Grossmann Meeting
Maffei, B.; Abitbol, M. H.; Aghanim, N.; Aumont, J.; Battistelli, E.; Chluba, J.; Coulon, X.; De Bernardis, P.; Douspis, M.; Grain, J.; Gervasoni, S.; Hill, J. C.; Kogut, A.; Masi, S.; Matsumura, T.; OâSullivan, C.; Pagano, L.; Pisano, G.; Remazeilles, M.; Ritacco, A.; Rotti, A.; Sauvage, V.; Savini, G.; Stever, S. L.; Tartari, A.; Thiele, L.; Trappe, N.
2022 - JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS
Limonta, A.; Zannoni, M.; Coppi, G.; Conenna, G.; Boussaha, F.; Tartari, A.; Gervasi, M.; Nati, F.; Passerini, A.; de Bernardis, P.; Coppolecchia, A.; D'Alessandro, G.; Masi, S.; Paiella, A.; Bersanelli, M.; Franceschet, C.; Manzan, E.; Mennella, A.
2022 - JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS
Hubmayr, J.; Ade, P. A. R.; Adler, A.; Allys, E.; Alonso, D.; Arnold, K.; Auguste, D.; Aumont, J.; Aurlien, R.; Austermann, J. E.; Azzoni, S.; Baccigalupi, C.; Banday, A. J.; Banerji, R.; Barreiro, R. B.; Bartolo, N.; Basak, S.; Battistelli, E.; Bautista, L.; Beall, J. A.; Beck, D.; Beckman, S.; Benabed, K.; Bermejo-Ballesteros, J.; Bersanelli, M.; Bonis, J.; Borrill, J.; Bouchet, F.; Boulanger, F.; Bounissou, S.; Brilenkov, M.; Brown, M. L.; Bucher, M.; Calabrese, E.; Calvo, M.; Campeti, P.; Carones, A.; Casas, F. J.; Catalano, A.; Challinor, A.; Chan, V.; Cheung, K.; Chinone, Y.; Chiocchetta, C.; Clark, S. E.; Clermont, L.; Clesse, S.; Cliche, J.; Columbro, F.; Connors, J. A.; Coppolecchia, A.; Coulton, W.; Cubas, J.; Cukierman, A.; Curtis, D.; Cuttaia, F.; D'Alessandro, G.; Dachlythra, K.; de Bernardis, P.; de Haan, T.; de la Hoz, E.; De Petris, M.; Della Torre, S.; Daz Garca, J. J.; Dickinson, C.; Diego-Palazuelos, P.; Dobbs, M.; Dotani, T.; Douillet, D.; Doumayrou, E.; Duband, L.; Ducout, A.; Duff, S. M.; Duval, J. M.; Ebisawa, K.; Elleflot, T.; Eriksen, H. K.; Errard, J.; Essinger-Hileman, T.; Farrens, S.; Finelli, F.; Flauger, R.; Fleury-Frenette, K.; Franceschet, C.; Fuskeland, U.; Galli, L.; Galli, S.; Galloway, M.; Ganga, K.; Gao, J. R.; Genova-Santos, R. T.; Georges, M.; Gerbino, M.; Gervasi, M.; Ghigna, T.; Giardiello, S.; Gjerlw, E.; Gonzles, R. G.; Gradziel, M. L.; Grain, J.; Grandsire, L.; Grupp, F.; Gruppuso, A.; Gudmundsson, J. E.; Halverson, N. W.; Hamilton, J.; Hargrave, P.; Hasebe, T.; Hasegawa, M.; Hattori, M.; Hazumi, M.; Henrot-Versill, S.; Hensley, B.; Herman, D.; Herranz, D.; Hilton, G. C.; Hivon, E.; Hlozek, R. A.; Hoang, D.; Hornsby, A. L.; Hoshino, Y.; Ichiki, K.; Iida, T.; Ikemoto, T.; Imada, H.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Jaehnig, G.; Jones, M.; Kaga, T.; Kashima, S.; Katayama, N.; Kato, A.; Kawasaki, T.; Keskitalo, R.; Kintziger, C.; Kisner, T.; Kobayashi, Y.; Kogiso, N.; Kogut, A.; Kohri, K.; Komatsu, E.; Komatsu, K.; Konishi, K.; Krachmalnicoff, N.; Kreykenbohm, I.; Kuo, C. L.; Kushino, A.; Lamagna, L.; Lanen, J. V.; Laquaniello, G.; Lattanzi, M.; Lee, A. T.; Leloup, C.; Levrier, F.; Linder, E.; Link, M. J.; Lonappan, A. I.; Louis, T.; Luzzi, G.; Macias-Perez, J.; Maciaszek, T.; Maffei, B.; Maino, D.; Maki, M.; Mandelli, S.; Maris, M.; Marquet, B.; Martnez-Gonzlez, E.; Martire, F. A.; Masi, S.; Massa, M.; Masuzawa, M.; Matarrese, S.; Matsuda, F. T.; Matsumura, T.; Mele, L.; Mennella, A.; Migliaccio, M.; Minami, Y.; Mitsuda, K.; Moggi, A.; Monelli, M.; Monfardini, A.; Montgomery, J.; Montier, L.; Morgante, G.; Mot, B.; Murata, Y.; Murphy, J. A.; Nagai, M.; Nagano, Y.; Nagasaki, T.; Nagata, R.; Nakamura, S.; Nakano, R.; Namikawa, T.; Nati, F.; Natoli, P.; Nerval, S.; Neto Godry Farias, N.; Nishibori, T.; Nishino, H.; Noviello, F.; O'Neil, G. C.; O'Sullivan, C.; Odagiri, K.; Ochi, H.; Ogawa, H.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Ohsaki, H.; Ohta, I. S.; Okada, N.; Pagano, L.; Paiella, A.; Paoletti, D.; Pascual Cisneros, G.; Passerini, A.; Patanchon, G.; Pelgrim, V.; Peloton, J.; Pettorino, V.; Piacentini, F.; Piat, M.; Piccirilli, G.; Pinsard, F.; Pisano, G.; Plesseria, J.; Polenta, G.; Poletti, D.; Prouv, T.; Puglisi, G.; Rambaud, D.; Raum, C.; Realini, S.; Reinecke, M.; Reintsema, C. D.; Remazeilles, M.; Ritacco, A.; Rosier, P.; Roudil, G.; Rubino-Martin, J.; Russell, M.; Sakurai, H.; Sakurai, Y.; Sandri, M.; Sasaki, M.; Savini, G.; Scott, D.; Seibert, J.; Sekimoto, Y.; Sherwin, B.; Shinozaki, K.; Shiraishi, M.; Shirron, P.; Shitvov, A.; Signorelli, G.; Smecher, G.; Spinella, F.; Starck, J.; Stever, S.; Stompor, R.; Sudiwala, R.; Sugiyama, S.; Sullivan, R.; Suzuki, A.; Suzuki, J.; Suzuki, T.; Svalheim, T. L.; Switzer, E.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takakura, S.; Takase, Y.; Takeda, Y.; Tartari, A.; Tavagnacco, D.; Taylor, A.; Taylor, E.; Terao, Y.; Terenzi, L.; Thermeau, J.; Thommesen, H.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Toda, T.; Tomasi, M.; Tominaga, M.; Trappe, N.; Tristram, M.; Tsuji, M.; Tsujimoto, M.; Tuck
2022 - JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS
Hasebe, T.; Ade, P. A. R.; Adler, A.; Allys, E.; Alonso, D.; Arnold, K.; Auguste, D.; Aumont, J.; Aurlien, R.; Austermann, J.; Azzoni, S.; Baccigalupi, C.; Banday, A. J.; Banerji, R.; Barreiro, R. B.; Bartolo, N.; Basak, S.; Battistelli, E.; Bautista, L.; Beall, J.; Beck, D.; Beckman, S.; Benabed, K.; Bermejo-Ballesteros, J.; Bersanelli, M.; Bonis, J.; Borrill, J.; Bouchet, F.; Boulanger, F.; Bounissou, S.; Brilenkov, M.; Brown, M. L.; Bucher, M.; Calabrese, E.; Calvo, M.; Campeti, P.; Carones, A.; Casas, F. J.; Catalano, A.; Challinor, A.; Chan, V.; Cheung, K.; Chinone, Y.; Cliche, J.; Columbro, F.; Coulton, W.; Cubas, J.; Cukierman, A.; Curtis, D.; D'Alessandro, G.; Dachlythra, K.; de Bernardis, P.; de Haan, T.; dela Hoz, E.; De Petris, M.; Torre, S. D.; Dickinson, C.; Diego-Palazuelos, P.; Dobbs, M.; Dotani, T.; Douillet, D.; Duband, L.; Ducout, A.; Duff, S.; Duval, J. M.; Ebisawa, K.; Elleflot, T.; Eriksen, H. K.; Errard, J.; Essinger-Hileman, T.; Finelli, F.; Flauger, R.; Franceschet, C.; Fuskeland, U.; Galli, S.; Galloway, M.; Ganga, K.; Gao, J. R.; Genova-Santos, R. T.; Gerbino, M.; Gervasi, M.; Ghigna, T.; Giardiello, S.; Gjerlow, E.; Gradziel, M. L.; Grain, J.; Grandsire, L.; Grupp, F.; Gruppuso, A.; Gudmundsson, J. E.; Halverson, N. W.; Hamilton, J.; Hargrave, P.; Hasegawa, M.; Hattori, M.; Hazumi, M.; Henrot-Versille, S.; Hergt, L. T.; Herman, D.; Herranz, D.; Hill, C. A.; Hilton, G.; Hivon, E.; Hlozek, R. A.; Hoang, T. D.; Hornsby, A. L.; Hoshino, Y.; Hubmayr, J.; Ichiki, K.; Iida, T.; Imada, H.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Jaehnig, G.; Jones, M.; Kaga, T.; Kashima, S.; Katayama, N.; Kato, A.; Kawasaki, T.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Kobayashi, Y.; Kogiso, N.; Kogut, A.; Kohri, K.; Komatsu, E.; Komatsu, K.; Konishi, K.; Krachmalnicoff, N.; Kreykenbohm, I.; Kuo, C. L.; Kushino, A.; Lamagna, L.; Lanen, J. V.; Laquaniello, G.; Lattanzi, M.; Lee, A. T.; Leloup, C.; Levrier, F.; Linder, E.; Louis, T.; Luzzi, G.; Macias-Perez, J.; Maciaszek, T.; Maffei, B.; Maino, D.; Maki, M.; Mandelli, S.; Maris, M.; Martinez-Gonzalez, E.; Masi, S.; Massa, M.; Matarrese, S.; Matsuda, F. T.; Matsumura, T.; Mele, L.; Mennella, A.; Migliaccio, M.; Minami, Y.; Mitsuda, K.; Moggi, A.; Monfardini, A.; Montgomery, J.; Montier, L.; Morgante, G.; Mot, B.; Murata, Y.; Murphy, J. A.; Nagai, M.; Nagano, Y.; Nagasaki, T.; Nagata, R.; Nakamura, S.; Nakano, R.; Namikawa, T.; Nati, F.; Natoli, P.; Nerval, S.; Nishibori, T.; Nishino, H.; Noviello, F.; O'Sullivan, C.; Odagiri, K.; Ogawa, H.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Ohsaki, H.; Ohta, I. S.; Okada, N.; Okada, N.; Pagano, L.; Paiella, A.; Paoletti, D.; Passerini, A.; Patanchon, G.; Pelgrim, V.; Peloton, J.; Piacentini, F.; Piat, M.; Pisano, G.; Polenta, G.; Poletti, D.; Prouve, T.; Puglisi, G.; Rambaud, D.; Raum, C.; Realini, S.; Reinecke, M.; Remazeilles, M.; Ritacco, A.; Roudil, G.; Rubino-Martin, J.; Russell, M.; Sakurai, H.; Sakurai, Y.; Sandri, M.; Sasaki, M.; Savini, G.; Scott, D.; Seibert, J.; Sekimoto, Y.; Sherwin, B.; Shinozaki, K.; Shiraishi, M.; Shirron, P.; Signorelli, G.; Smecher, G.; Spinella, F.; Stever, S.; Stompor, R.; Sugiyama, S.; Sullivan, R.; Suzuki, A.; Suzuki, J.; Svalheim, T. L.; Switzer, E.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takakura, S.; Takase, Y.; Takeda, Y.; Tartari, A.; Tavagnacco, D.; Taylor, A.; Taylor, E.; Terao, Y.; Thermeau, J.; Thommesen, H.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Toda, T.; Tomasi, M.; Tominaga, M.; Trappe, N.; Tristram, M.; Tsuji, M.; Tsujimoto, M.; Tucker, C.; Ullom, J.; Vacher, L.; Vermeulen, G.; Vielva, P.; Villa, F.; Vissers, M.; Vittorio, N.; Wandelt, B.; Wang, W.; Watanuki, K.; Wehus, I. K.; Weller, J.; Westbrook, B.; Wilms, J.; Winter, B.; Wollack, E. J.; Yamasaki, N. Y.; Yoshida, T.; Yumoto, J.; Zacchei, A.; Zannoni, M.; Zonca, A.
2022 - SPIE Astronomical Telescopes + Instrumentation, 2022, Montréal, Québec, Canada
Maffei, B.; Aghanim, N.; Aumont, J.; Battistelli, E.; Chluba, J.; Coulon, X.; De Bernardis, P.; Douspis, M.; Grain, J.; Hill, J. C.; Kogut, A.; Kuruvilla, J.; Lagache, G.; Macias-Perez, J.; Masi, S.; Matsumura, T.; Mele, L.; Monfardini, A.; O'Sullivan, C.; Pagano, L.; Pisano, G.; Ponthieu, N.; Remazeilles, M.; Ritacco, A.; Rotti, A.; Savini, G.; Sauvage, V.; Shitvov, A.; Stever, S. L.; Tartari, A.; Thiele, L.; Trappe, N.; Aubrun, J. -F.; Laurens, A.; Pheav, D.; Vacher, F.
2022 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Gascard, T.; Pisano, G.; Doyle, S.; Shitvov, A.; Barry, P.; Brien, T. L. R.; Dunscombe, C.
2020 - REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
de Bernardis, Paolo; Columbro, Fabio; Masi, Silvia; Paiella, Alessandro; Romeo, Giovanni
2020 - mm Universe @ NIKA2 - Observing the mm Universe with the NIKA2 Camera
Kéruzoré, F.; Adam, R.; Ade, P.; André, P.; Andrianasolo, A.; Arnaud, M.; Aussel, H.; Bartalucci, I.; Beelen, A.; Benoît, A.; Bideaud, A.; Bourrion, O.; Calvo, M.; Catalano, A.; Comis, B.; De Petris, M.; Désert, F. -X.; Doyle, S.; Driessen, E. F. C.; Gomez, A.; Goupy, J.; Kramer, C.; Ladjelate, B.; Lagache, G.; Leclercq, S.; Lestrade, J. -F.; MacÃas-Pérez, J. F.; Mauskopf, P.; Mayet, F.; Monfardini, A.; Perotto, L.; Pisano, G.; Pointecouteau, E.; Ponthieu, N.; Pratt, G. W.; Revéret, V.; Ritacco, A.; Romero, C.; Roussel, H.; Ruppin, F.; Schuster, K.; Shu, S.; Sievers, A.; Tucker, C.; Zylka, R.
2020 - JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS
Piat, M.; Belier, B.; Berge, L.; Bleurvacq, N.; Chapron, C.; Dheilly, S.; Dumoulin, L.; Gonzalez, M.; Grandsire, L.; Hamilton, J. -C.; Henrot-Versille, S.; Hoang, D. T.; Marnieros, S.; Marty, W.; Montier, L.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Perbost, C.; Prele, D.; Rambaud, D.; Salatino, M.; Stankowiak, G.; Thermeau, J. -P.; Torchinsky, S.; Voisin, F.; Ade, P.; Alberro, J. G.; Almela, A.; Amico, G.; Arnaldi, L. H.; Auguste, D.; Aumont, J.; Azzoni, S.; Banfi, S.; Battaglia, P.; Battistelli, E. S.; Bau, A.; Bennett, D.; Bernard, J. -P.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bottani, A.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; D'Alessandro, G.; de Bernardis, P.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Ferreyro, L. P.; Fracchia, D.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; Ganga, K.; Garcia, B.; Garcia Redondo, M. E.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Gilles, V.; Giraud-Heraud, Y.; Gomez Berisso, M.; Gradziel, M.; Harari, D.; Haynes, V.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A.; McCulloch, M.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S.; Mennella, A.; Mousset, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; Nati, F.; O'Sullivan, C.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perciballi, M.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Platino, M.; Polenta, G.; Puddu, R.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salum, J. M.; Schillaci, A.; Scoccola, C.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Timbie, P.; Tomasi, M.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Vigano, D.; Vittorio, N.; Watson, B.; Wicek, F.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2020 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Murphy, J. D.; Burke, D.; Gamboa Lerena, M. M.; Hamilton, J. -C.; Mousset, L.; De Petris, M.; Osullivan, C.; Torchinsky, S. A.; Ade, P.; Alberro, J. G.; Almela, A.; Amico, G.; Arnaldi, L. H.; Auguste, D.; Aumont, J.; Azzoni, S.; Banfi, S.; Belier, B.; Battistelli, E. S.; Bau, A.; Bennett, D.; Berge, L.; De Bernardis, P.; Bernard, J. -P.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bunn, E.; Buzi, D.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Cobos Cerutti, A. C.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; D'Alessandro, G.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; Dheilly, S.; Duca, C.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Ferreyro, L. P.; Fracchia, D.; Franceschet, C.; Ganga, K. M.; Garcia, B.; Garcia Redondo, M. E.; Gaspard, M.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Gilles, V.; Giraud-Heraud, Y.; Grandsire, L.; Gomez Berisso, M.; Gonzalez, M.; Gradziel, M.; Hampel, M. R.; Harari, D.; Henrot-Versille, S.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Marty, W.; Mattei, A.; May, A.; McCulloch, M.; Mele, L.; Masi, S.; Melo, D.; Mennella, A.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Nati, F.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perciballi, M.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Platino, M.; Polenta, G.; Prele, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Rasztocky, E.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salum, J. M.; Scoccola, C.; Schillaci, A.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stankowiak, G.; Stolpovskiy, M.; Supanitsky, A. D.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P.; Tomasi, M.; Tucker, G.; Tucker, C.; Vigano, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Wicek, F.; Wright, M.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2020 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Stankowiak, G.; Piat, M.; Battistelli, E. S.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Petris, M. D.; Gonzalez, M.; Grandsire, L.; Hamilton, J. Ch.; Hoang, T. D.; Masi, S.; Marnieros, S.; Mennella, A.; Mousset, L.; O'Sullivan, C.; Prele, D.; Tartari, A.; Thermeau, J. P.; Torchinsky, S. A.; Voisin, F.; Zannoni, M.; Ade, P.; Alberro, J. G.; Almela, A.; Amico, G.; Arnaldi, L. H.; Auguste, D.; Aumont, J.; Azzoni, S.; Banff, S.; Belier, B.; Baffu, A.; Bennett, D.; Berge, L.; Bernard, J. -P.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Cerutti, A. C. C.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; De Gasperis, G.; Leo, M. D.; Dheilly, S.; Duca, C.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Ferreyro, L. P.; Fracchia, D.; Franceschet, C.; Lerena, M. M. G.; Ganga, K. M.; Garcia, B.; Redondo, M. E. G.; Gaspard, M.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Gilles, V.; Giraud-Heraud, Y.; Berisso, M. G.; Gradziel, M.; Hampel, M. R.; Harari, D.; Henrot-Versille, S.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Maffei, B.; Marty, W.; Mattei, A.; May, A.; McCulloch, M.; Mele, L.; Melo, D.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; Nati, F.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perciballi, M.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Platino, M.; Polenta, G.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Rasztocky, E.; Salum, J. M.; Schillaci, A.; Scoccola, C.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Supanitsky, A. D.; Timbie, P.; Tomasi, M.; Tucker, G.; Tucker, C.; Vigano, D.; Vittorio, N.; Wicek, F.; Wright, M.; Zullo, A.
2020 - PHYSICAL REVIEW LETTERS
Caputo, Andrea; Liu, Hongwan; Mishra-Sharma, Siddharth; Ruderman, Joshua T.
2019 - EPJ Web Conf
MASI, Silvia; Coppolecchia, A.; Battistelli, E.; de Bernardis, P.; Columbro, F.; DâAlessandro, G.; Lamagna, L.; Paiella, A.; Piacentini, F.; Presta, G.
2019 - BULLETIN OF THE AMERICAN ASTRONOMICAL SOCIETY
Chluba, Jens; Kogut, A.; Patil, S. P.; Abitbol, M. H.; Aghanim, N.; Ali-HaıÌmoud, Y.; Amin, M. A.; Aumont, J.; Bartolo, N.; Basu, K.; Battistelli, E. S.; Battye, R.; Baumann, D.; Ben-Dayan, I.; Bolliet, B.; Bond, J. R.; Bouchet, F. R.; Burgess, C. P.; Burigana, C.; Byrnes, ; C. T., Cabass; Chuss, D. T.; Clesse, S.; Cole, P. S.; Dai, L.; de Bernardis, P.; Delabrouille, J.; Desjacques, V.; de Zotti, G.; Diacoumis, J. A. D.; Dimastrogiovanni, E.; Di Valentino, E.; Dunkley, J.; Durrer, R.; Dvorkin, C.; Ellis, J.; Eriksen, H. K.; Fasiello, M.; Fixsen, D.; Finelli, F.; Flauger, R.; Galli, S.; Garcia-Bellido, J.; Gervasi, M.; Gluscevic, V.; Grin, D.; Hart, L.; Hernández-Monteagudo, C.; Hill, J. C.; Jeong, D.; Johnson, B. R.; Lagache, G.; Lee, E.; Lewis, A.; Liguori, M.; Kamionkowski, M.; Khatri, R.; Kohri, K.; Komatsu, E.; Kunze, K. E.; Mangilli, A.; Masi, S.; Mather, J.; Matarrese, S.; Miville-Deschênes, M. A.; Montaruli, T.; Münchmeyer, M.; Mukherjee, S.; Nakama, T.; Nati, F.; Ota, A.; Page, L. A.; Pajer, E.; Poulin, V.; Ravenni, A.; Reichardt, C.; Remazeilles, M.; Rotti, A.; Rubiño-Martin, J. A.; Sarkar, A.; Sarkar, S.; Savini, G.; Scott, D.; Serpico, P. D.; Silk, J.; Souradeep, T.; Spergel, D. N.; Starobinsky, A. A.; Subrahmanyan, R.; Sunyaev, R. A.; Switzer, E.; Tartari, A.; Tashiro, H.; Thakur, R. Basu; Trombetti, T.; Wallisch, B.; Wandelt, B. D.; Wehus, I. K.; Wollack, E. J.; Zaldarriaga, M.; Zannoni, M.
2019 - HIGH FREQUENCY
Fantaye, Yabebal; Cammarota, Valentina; Marinucci, Domenico; Todino, Anna Paola
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Burke, D.; Gayer, D.; Kalinauskaite, E.; O'Sullivan, C.; Murphy, J. D.; Scully, S. P.; De Petris, M.; De Leo, M.; Mennella, A.; Torchinsky, S. A.; Zannoni, M.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D. G.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvac, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E. F.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Alessandro, G.; D'Agostino, R.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; Di Donato, A.; Drilien, A. -A.; Dumoulin, Louis; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa-Lerena, M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M. L.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Holtzer, N.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A. L.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Lande, J.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, Bruno; Marnieros, S.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A. J.; Mcculloch, M. A.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S. J.; Mundo, L.; Montier, L.; Murphy, J. A.; Néel, D.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M. R.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Rigaut, O.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Spinelli, S. M.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P. T.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, G. S.; Tucker, C. E.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
O'Sullivan, C.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvacq, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A.; Mcculloch, M.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S.; Mennella, A.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P.; Torchinsky, S. A.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
O'Sullivan, C.; Burke, D.; Gayer, D.; Murphy, J. D.; Scully, S.; De Leo, M.; De Petris, M.; Mattei, A.; Zullo, A.; Mennella, A.; Zannoni, M.; Bleurvacq, N.; Chapron, C.; Hamilton, J. -Ch.; Piat, M.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Masi, S.; May, A.; Mcculloch, M.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P.; Torchinsky, S. A.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.
2018 - JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS
Johnson, B. R.; Flanigan, D.; Abitbol, M. H.; Ade, P. A. R.; Bryan, S.; Cho, H. -M.; Datta, R.; Day, P.; Doyle, S.; Irwin, K.; Jones, G.; Li, D.; Mauskopf, P.; McCarrick, H.; McMahon, J.; Miller, A.; Pisano, G.; Song, Y.; Surdi, H.; Tucker, C.
2017 - REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Johnson, B. R.; Columbro, F.; Araujo, D.; Limon, M.; Smiley, B.; Jones, G.; Reichborn-Kjennerud, B.; Miller, A.; Gupta, S.
2016 - JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS
Paiella, A.; Coppolecchia, A.; Castellano, M. Gabriella.; Colantoni, I.; Cruciani, A.; DâAddabbo, A.; de Bernardis, P.; Masi, S.; Presta, G.
2016 -
Legg, Stephen; Lamagna, Luca; Coppi, Gabriele; De Bernardis, Paolo; Giuliani, Grazia; Gualtieri, Riccardo; Marchetti, Tommaso; Masi, Silvia; Pisano, Giampaolo; Maffei, Bruno
2016 -
Scully, S.; Burke, D.; O'Sullivan, C.; Gayer, D.; Gradziel, M.; Murphy, J. A.; De Petris, M.; Buzi, D.; Zannoni, M.; Mennella, A.; Gervasi, M.; Tartari, A.; Maffei, B.; Aumont, J.; Banfi, S.; Battaglia, P.; Battistelli, E. S.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennet, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -P.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvacq, N.; Bordier, G.; Brossard, J.; Bunn, E. F.; Cammileri, D.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Decourcelle, T.; Del Torto, F.; Dumoulin, L.; Franceschet, C.; Gault, A.; Ghribi, A.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Grandsire, L.; Hamilton, J. C.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Holtzer, N.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Lande, J.; Lowitz, A.; Marnieros, S.; Martino, J.; Masi, S.; McCulloch, Mark; Melhuish, Simon; Montier, L.; Néel, D.; Ng, M. W.; Pajot, F.; Passerini, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Piacentini, F.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Rigaut, O.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Stolpovskiy, M.; Timbie, P.; Tristram, M.; Tucker, G.; Viganò, D.; Voisin, F.; Watson, B.
2016 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Johnson, B. R.; Flanigan, D.; Abitbol, M. H.; Ade, P. A. R.; Bryan, S.; Cho, H. -M.; Datta, R.; Day, P.; Doyle, S.; Irwin, K.; Jones, G.; Kernasovskiy, S.; Li, D.; Mauskopf, P.; Mccarrick, H.; Mcmahon, J.; Miller, A.; Pisano, G.; Song, Y.; Surdi, H.; Tucker, C.