Pubblicazioni
2022 - JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS
Hubmayr, J.; Ade, P. A. R.; Adler, A.; Allys, E.; Alonso, D.; Arnold, K.; Auguste, D.; Aumont, J.; Aurlien, R.; Austermann, J. E.; Azzoni, S.; Baccigalupi, C.; Banday, A. J.; Banerji, R.; Barreiro, R. B.; Bartolo, N.; Basak, S.; Battistelli, E.; Bautista, L.; Beall, J. A.; Beck, D.; Beckman, S.; Benabed, K.; Bermejo-Ballesteros, J.; Bersanelli, M.; Bonis, J.; Borrill, J.; Bouchet, F.; Boulanger, F.; Bounissou, S.; Brilenkov, M.; Brown, M. L.; Bucher, M.; Calabrese, E.; Calvo, M.; Campeti, P.; Carones, A.; Casas, F. J.; Catalano, A.; Challinor, A.; Chan, V.; Cheung, K.; Chinone, Y.; Chiocchetta, C.; Clark, S. E.; Clermont, L.; Clesse, S.; Cliche, J.; Columbro, F.; Connors, J. A.; Coppolecchia, A.; Coulton, W.; Cubas, J.; Cukierman, A.; Curtis, D.; Cuttaia, F.; D'Alessandro, G.; Dachlythra, K.; de Bernardis, P.; de Haan, T.; de la Hoz, E.; De Petris, M.; Della Torre, S.; Daz Garca, J. J.; Dickinson, C.; Diego-Palazuelos, P.; Dobbs, M.; Dotani, T.; Douillet, D.; Doumayrou, E.; Duband, L.; Ducout, A.; Duff, S. M.; Duval, J. M.; Ebisawa, K.; Elleflot, T.; Eriksen, H. K.; Errard, J.; Essinger-Hileman, T.; Farrens, S.; Finelli, F.; Flauger, R.; Fleury-Frenette, K.; Franceschet, C.; Fuskeland, U.; Galli, L.; Galli, S.; Galloway, M.; Ganga, K.; Gao, J. R.; Genova-Santos, R. T.; Georges, M.; Gerbino, M.; Gervasi, M.; Ghigna, T.; Giardiello, S.; Gjerlw, E.; Gonzles, R. G.; Gradziel, M. L.; Grain, J.; Grandsire, L.; Grupp, F.; Gruppuso, A.; Gudmundsson, J. E.; Halverson, N. W.; Hamilton, J.; Hargrave, P.; Hasebe, T.; Hasegawa, M.; Hattori, M.; Hazumi, M.; Henrot-Versill, S.; Hensley, B.; Herman, D.; Herranz, D.; Hilton, G. C.; Hivon, E.; Hlozek, R. A.; Hoang, D.; Hornsby, A. L.; Hoshino, Y.; Ichiki, K.; Iida, T.; Ikemoto, T.; Imada, H.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Jaehnig, G.; Jones, M.; Kaga, T.; Kashima, S.; Katayama, N.; Kato, A.; Kawasaki, T.; Keskitalo, R.; Kintziger, C.; Kisner, T.; Kobayashi, Y.; Kogiso, N.; Kogut, A.; Kohri, K.; Komatsu, E.; Komatsu, K.; Konishi, K.; Krachmalnicoff, N.; Kreykenbohm, I.; Kuo, C. L.; Kushino, A.; Lamagna, L.; Lanen, J. V.; Laquaniello, G.; Lattanzi, M.; Lee, A. T.; Leloup, C.; Levrier, F.; Linder, E.; Link, M. J.; Lonappan, A. I.; Louis, T.; Luzzi, G.; Macias-Perez, J.; Maciaszek, T.; Maffei, B.; Maino, D.; Maki, M.; Mandelli, S.; Maris, M.; Marquet, B.; Martnez-Gonzlez, E.; Martire, F. A.; Masi, S.; Massa, M.; Masuzawa, M.; Matarrese, S.; Matsuda, F. T.; Matsumura, T.; Mele, L.; Mennella, A.; Migliaccio, M.; Minami, Y.; Mitsuda, K.; Moggi, A.; Monelli, M.; Monfardini, A.; Montgomery, J.; Montier, L.; Morgante, G.; Mot, B.; Murata, Y.; Murphy, J. A.; Nagai, M.; Nagano, Y.; Nagasaki, T.; Nagata, R.; Nakamura, S.; Nakano, R.; Namikawa, T.; Nati, F.; Natoli, P.; Nerval, S.; Neto Godry Farias, N.; Nishibori, T.; Nishino, H.; Noviello, F.; O'Neil, G. C.; O'Sullivan, C.; Odagiri, K.; Ochi, H.; Ogawa, H.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Ohsaki, H.; Ohta, I. S.; Okada, N.; Pagano, L.; Paiella, A.; Paoletti, D.; Pascual Cisneros, G.; Passerini, A.; Patanchon, G.; Pelgrim, V.; Peloton, J.; Pettorino, V.; Piacentini, F.; Piat, M.; Piccirilli, G.; Pinsard, F.; Pisano, G.; Plesseria, J.; Polenta, G.; Poletti, D.; Prouv, T.; Puglisi, G.; Rambaud, D.; Raum, C.; Realini, S.; Reinecke, M.; Reintsema, C. D.; Remazeilles, M.; Ritacco, A.; Rosier, P.; Roudil, G.; Rubino-Martin, J.; Russell, M.; Sakurai, H.; Sakurai, Y.; Sandri, M.; Sasaki, M.; Savini, G.; Scott, D.; Seibert, J.; Sekimoto, Y.; Sherwin, B.; Shinozaki, K.; Shiraishi, M.; Shirron, P.; Shitvov, A.; Signorelli, G.; Smecher, G.; Spinella, F.; Starck, J.; Stever, S.; Stompor, R.; Sudiwala, R.; Sugiyama, S.; Sullivan, R.; Suzuki, A.; Suzuki, J.; Suzuki, T.; Svalheim, T. L.; Switzer, E.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takakura, S.; Takase, Y.; Takeda, Y.; Tartari, A.; Tavagnacco, D.; Taylor, A.; Taylor, E.; Terao, Y.; Terenzi, L.; Thermeau, J.; Thommesen, H.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Toda, T.; Tomasi, M.; Tominaga, M.; Trappe, N.; Tristram, M.; Tsuji, M.; Tsujimoto, M.; Tuck
2021 - FUSION ENGINEERING AND DESIGN
Tincani, A.; Arena, P.; Bruzzone, M.; Catanzaro, I.; Ciurluini, C.; Nevo, A. D.; Di Maio, P. A.; Forte, R.; Giannetti, F.; Lorenzi, S.; Martelli, E.; Moreno, C.; Mozzillo, R.; Ortiz, C.; Paoletti, F.; Pierantoni, V.; Ricapito, I.; Spagnuolo, G. A.; Tarallo, A.; Tripodo, C.; Cammi, A.; Utili, M.; Voukelatou, K.; Walcz, E.; Lesko, B.; Korzeniowska, J.; Chiovaro, P.; Narcisi, V.
2020 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Murphy, J. D.; Burke, D.; Gamboa Lerena, M. M.; Hamilton, J. -C.; Mousset, L.; De Petris, M.; Osullivan, C.; Torchinsky, S. A.; Ade, P.; Alberro, J. G.; Almela, A.; Amico, G.; Arnaldi, L. H.; Auguste, D.; Aumont, J.; Azzoni, S.; Banfi, S.; Belier, B.; Battistelli, E. S.; Bau, A.; Bennett, D.; Berge, L.; De Bernardis, P.; Bernard, J. -P.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bunn, E.; Buzi, D.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Cobos Cerutti, A. C.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; D'Alessandro, G.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; Dheilly, S.; Duca, C.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Ferreyro, L. P.; Fracchia, D.; Franceschet, C.; Ganga, K. M.; Garcia, B.; Garcia Redondo, M. E.; Gaspard, M.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Gilles, V.; Giraud-Heraud, Y.; Grandsire, L.; Gomez Berisso, M.; Gonzalez, M.; Gradziel, M.; Hampel, M. R.; Harari, D.; Henrot-Versille, S.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Marty, W.; Mattei, A.; May, A.; McCulloch, M.; Mele, L.; Masi, S.; Melo, D.; Mennella, A.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Nati, F.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perciballi, M.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Platino, M.; Polenta, G.; Prele, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Rasztocky, E.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salum, J. M.; Scoccola, C.; Schillaci, A.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stankowiak, G.; Stolpovskiy, M.; Supanitsky, A. D.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P.; Tomasi, M.; Tucker, G.; Tucker, C.; Vigano, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Wicek, F.; Wright, M.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2020 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Stankowiak, G.; Piat, M.; Battistelli, E. S.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Petris, M. D.; Gonzalez, M.; Grandsire, L.; Hamilton, J. Ch.; Hoang, T. D.; Masi, S.; Marnieros, S.; Mennella, A.; Mousset, L.; O'Sullivan, C.; Prele, D.; Tartari, A.; Thermeau, J. P.; Torchinsky, S. A.; Voisin, F.; Zannoni, M.; Ade, P.; Alberro, J. G.; Almela, A.; Amico, G.; Arnaldi, L. H.; Auguste, D.; Aumont, J.; Azzoni, S.; Banff, S.; Belier, B.; Baffu, A.; Bennett, D.; Berge, L.; Bernard, J. -P.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Cerutti, A. C. C.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; De Gasperis, G.; Leo, M. D.; Dheilly, S.; Duca, C.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Ferreyro, L. P.; Fracchia, D.; Franceschet, C.; Lerena, M. M. G.; Ganga, K. M.; Garcia, B.; Redondo, M. E. G.; Gaspard, M.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Gilles, V.; Giraud-Heraud, Y.; Berisso, M. G.; Gradziel, M.; Hampel, M. R.; Harari, D.; Henrot-Versille, S.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Maffei, B.; Marty, W.; Mattei, A.; May, A.; McCulloch, M.; Mele, L.; Melo, D.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; Nati, F.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perciballi, M.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Platino, M.; Polenta, G.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Rasztocky, E.; Salum, J. M.; Schillaci, A.; Scoccola, C.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Supanitsky, A. D.; Timbie, P.; Tomasi, M.; Tucker, G.; Tucker, C.; Vigano, D.; Vittorio, N.; Wicek, F.; Wright, M.; Zullo, A.
2019 - AIP Conference Proceedings
Gallardo, F.; Prattico, L.; Toro, C.
2019 - JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS
DâAndrea, M.; Macculi, C.; Torrioli, G.; Argan, A.; Brienza, D.; Lotti, S.; Minervini, G.; Piro, L.; Biasotti, M.; Ferrari Barusso, L.; Gatti, F.; Rigano, M.; Volpe, A.; Battistelli, E. S.
2016 - JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS
Gualtieri, Riccardo; Battistelli, Elia Stefano; Cruciani, Angelo; De Bernardis, Paolo; Biasotti, M.; Corsini, D.; Gatti, F.; Lamagna, Luca; Masi, Silvia
2016 - JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS
Datta, R; Austermann, J.; Beall, J. A.; Becker, D.; Coughlin, K. P.; Duff, S. M.; Gallardo, P. A.; Grace, E.; Hasselfield, M.; Henderson, S. W.; Hilton, G. C.; Ho, S. P.; Hubmayr, J.; Koopman, B. J.; Lanen, J. V.; Li, D.; Mcmahon, J.; Munson, C. D.; Nati, Federico; Niemack, M. D.; Page, L.; Pappas, C. G.; Salatino, M.; Schmitt, B. L.; Schillaci, A.; Simon, S. M.; Staggs, S. T.; Stevens, J. R.; Vavagiakis, E. M.; Ward, J. T.; Wollack, E. J.