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2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Muleri, F.; Lefevre, C.; Piazzolla, R.; Morbidini, A.; Amici, F.; Attina, P.; Centrone, M.; Del Monte, E.; DI Cosimo, S.; DI Persio, G.; Evangelista, Y.; Fabiani, S.; Ferrazzoli, R.; Loffredo, P.; Maiolo, L.; Maita, F.; Primicino, L.; Rankin, J.; Rubini, A.; Santoli, F.; Soffitta, P.; Tobia, A.; Tortosa, A.; Trois, A.