Pubblicazioni
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Salatino, M.; Bélier, B.; Chapron, C.; Hoang, D. T.; Maestre, S.; Marnieros, S.; Marty, W.; Montier, L.; Piat, M.; Prêle, D.; Rambaud, D.; Thermeau, J. P.; Torchinsky, S. A.; Henrot-Versillé, S.; Voisin, F.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvacq, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A. J.; Mcculloch, M. A.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S.; Mennella, A.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; O'Sullivan, C.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Puddu, R.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Timbie, P.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Watson, B.; Wicek, F.; Zannoni, M.; Zullo, A.