Pubblicazioni
2020 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Sekimoto, Y.; Ade, P. A. R.; Adler, A.; Allys, E.; Arnold, K.; Auguste, D.; Aumont, J.; Aurlien, R.; Austermann, J.; Baccigalupi, C.; Banday, A. J.; Banerji, R.; Barreiro, R. B.; Basak, S.; Beall, J.; Beck, D.; Beckman, S.; Bermejo, J.; De Bernardis, P.; Bersanelli, M.; Bonis, J.; Borrill, J.; Boulanger, F.; Bounissou, S.; Brilenkov, M.; Brown, M.; Bucher, M.; Calabrese, E.; Campeti, P.; Carones, A.; Casas, F. J.; Challinor, A.; Chan, V.; Cheung, K.; Chinone, Y.; Cliche, J. F.; Colombo, L.; Columbro, F.; Cubas, J.; Cukierman, A.; Curtis, D.; D'Alessandro, G.; Dachlythra, N.; De Petris, M.; Dickinson, C.; Diego-Palazuelos, P.; Dobbs, M.; Dotani, T.; Duband, L.; Duff, S.; Duval, J. M.; Ebisawa, K.; Elleflot, T.; Eriksen, H. K.; Errard, J.; Essinger-Hileman, T.; Finelli, F.; Flauger, R.; Franceschet, C.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Ganga, K.; Gao, J. R.; Genova-Santos, R.; Gerbino, M.; Gervasi, M.; Ghigna, T.; Gjerlow, E.; Gradziel, M. L.; Grain, J.; Grupp, F.; Gruppuso, A.; Gudmundsson, J. E.; De Haan, T.; Halverson, N. W.; Hargrave, P.; Hasebe, T.; Hasegawa, M.; Hattori, M.; Hazumi, M.; Henrot-Versille, S.; Herman, D.; Herranz, D.; Hill, C. A.; Hilton, G.; Hirota, Y.; Hivon, E.; Hlozek, R. A.; Hoshino, Y.; De La Hoz, E.; Hubmayr, J.; Ichiki, K.; Iida, T.; Imada, H.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Jaehnig, G.; Kaga, T.; Kashima, S.; Katayama, N.; Kato, A.; Kawasaki, T.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Kobayashi, Y.; Kogiso, N.; Kogut, A.; Kohri, K.; Komatsu, E.; Komatsu, K.; Konishi, K.; Krachmalnicoff, N.; Kreykenbohm, I.; Kuo, C. L.; Kushino, A.; Lamagna, L.; Lanen, J. V.; Lattanzi, M.; Lee, A. T.; Leloup, C.; Levrier, F.; Linder, E.; Louis, T.; Luzzi, G.; MacIaszek, T.; Maffei, B.; Maino, D.; Maki, M.; Mandelli, S.; Martinez-Gonzalez, E.; Masi, S.; Matsumura, T.; Mennella, A.; Migliaccio, M.; Minami, Y.; Mitsuda, K.; Montgomery, J.; Montier, L.; Morgante, G.; Mot, B.; Murata, Y.; Murphy, J. A.; Nagai, M.; Nagano, Y.; Nagasaki, T.; Nagata, R.; Nakamura, S.; Namikawa, T.; Natoli, P.; Nerval, S.; Nishibori, T.; Nishino, H.; O Sullivan, C.; Ogawa, H.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Ohsaki, H.; Ohta, I. S.; Okada, N.; Okada, N.; Pagano, L.; Paiella, A.; Paoletti, D.; Patanchon, G.; Peloton, J.; Piacentini, F.; Pisano, G.; Polenta, G.; Poletti, D.; Prouve, T.; Puglisi, G.; Rambaud, D.; Raum, C.; Realini, S.; Reinecke, M.; Remazeilles, M.; Ritacco, A.; Roudil, G.; Rubino-Martin, J. A.; Russell, M.; Sakurai, H.; Sakurai, Y.; Sandri, M.; Sasaki, M.; Savini, G.; Scott, D.; Seibert, J.; Sherwin, B.; Shinozaki, K.; Shiraishi, M.; Shirron, P.; Signorelli, G.; Smecher, G.; Stever, S.; Stompor, R.; Sugai, H.; Sugiyama, S.; Suzuki, A.; Suzuki, J.; Svalheim, T. L.; Switzer, E.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takakura, S.; Takase, Y.; Takeda, Y.; Tartari, A.; Taylor, E.; Terao, Y.; Thommesen, H.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Toda, T.; Tomasi, M.; Tominaga, M.; Trappe, N.; Tristram, M.; Tsuji, M.; Tsujimoto, M.; Tucker, C.; Ullom, J.; Vermeulen, G.; Vielva, P.; Villa, F.; Vissers, M.; Vittorio, N.; Wehus, I.; Weller, J.; Westbrook, B.; Wilms, J.; Winter, B.; Wollack, E. J.; Yamasaki, N. Y.; Yoshida, T.; Yumoto, J.; Zannoni, M.; Zonca, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Sekimoto, Y.; Ade, P.; Arnold, K.; Aumont, J.; Austermann, J.; Baccigalupi, C.; Banday, A.; Banerji, R.; Basak, S.; Beckman, S.; Bersanelli, M.; Borrill, J.; Boulanger, F.; Brown, M. L.; Bucher, M.; Calabrese, E.; Casas, F. J.; Challinor, A.; Chinone, Y.; Columbro, F.; Cukierman, A.; Curtis, D.; De Bernardis, P.; De Petris, M.; Dobbs, M.; Dotani, T.; Duband, L.; Duval, J. M.; Ducout, A.; Ebisawa, K.; Elleot, T.; Eriksen, H.; Errard, J.; Flauger, R.; Franceschet, C.; Fuskeland, U.; Ganga, K.; Gao, R. J.; Ghigna, T.; Grain, J.; Gruppuso, A.; Halverson, N.; Hargrave, P.; Hasebe, T.; Hasegawa, M.; Hattori, M.; Hazumi, M.; Henrot-Versille, S.; Hill, C.; Hirota, Y.; Hivon, E.; Hoang, T. D.; Hubmayr, J.; Ichiki, K.; Imada, H.; Ishino, H.; Jaehnig, G.; Kanai, H.; Kashima, S.; Kataoka, Y.; Katayama, N.; Kawasaki, T.; Keskitalo, R.; Kibayashi, A.; Kikuchi, T.; Kimura, K.; Kisner, T.; Kobayashi, Y.; Kogiso, N.; Kohri, K.; Komatsu, E.; Komatsu, K.; Konishi, K.; Krachmalnicoff, N.; Kuo, L. C.; Kurinsky, N.; Kushino, A.; Lamagna, L.; Lee, T. A.; Linder, E.; Maffei, B.; Maki, M.; Mangilli, A.; Martinez-Gonzalez, E.; Masi, S.; Matsumura, T.; Mennella, A.; Minami, Y.; Mistuda, K.; Molinari, D.; Montier, L.; Morgante, G.; Mot, B.; Murata, Y.; Murphy, A.; Nagai, M.; Nagata, R.; Nakamura, S.; Namikawa, T.; Natoli, P.; Nishibori, T.; Nishino, H.; Noviello, F.; O'Sullivan, C.; Ochi, H.; Ogawa, H.; Ogawa, H.; Ohsaki, H.; Ohta, I.; Okada, N.; Patanchon, G.; Piacentini, F.; Pisano, G.; Polenta, G.; Poletti, D.; Puglisi, G.; Raum, C.; Realini, S.; Remazeilles, M.; Sakurai, H.; Sakurai, Y.; Savini, G.; Sherwin, B.; Shinozaki, K.; Shiraishi, M.; Signorelli, G.; Smecher, G.; Stompor, R.; Sugai, H.; Sugiyama, S.; Suzuki, A.; Suzuki, J.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takakura, S.; Taylor, E.; Terao, Y.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Tomasi, M.; Tomida, H.; Trappe, N.; Tristram, M.; Tsuji, M.; Tsujimoto, M.; Uozumi, S.; Utsunomiya, S.; Vittorio, N.; Watanabe, N.; Wehus, I.; Westbrook, B.; Winter, B.; Yamamoto, R.; Yamasaki, N.; Yanagisawa, M.; Yoshida, T.; Yumoto, J.; Zannoni, M.; Zonca, A.