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Single-shot non-intercepting profile monitor of plasma-accelerated electron beams with nanometric resolution

2017 - APPLIED PHYSICS LETTERS

Curcio, Alessandro; Anania, M.; Bisesto, Fabrizio Giuseppe; Chiadroni, E.; Cianchi, A.; Ferrario, Massimo; Filippi, Francesco; Giulietti, D.; Marocchino, Alberto; Mira, Francesco; Petrarca, Massimo; Shpakov, V.; Zigler, A.