Pubblicazioni

Strained Silicon Technology: Non-Destructive High-Lateral-Resolution Characterization Through Tip-Enhanced Raman Spectroscopy

2024 - APPLIED SPECTROSCOPY
LA PENNA, Giancarlo; Mancini, Chiara; Proietti, Anacleto; Buccini, Luca; Passeri, Daniele; Gambacorti, Narciso; Richy, Jérôme; Rossi, Marco

© Università degli Studi di Roma "La Sapienza" - Piazzale Aldo Moro 5, 00185 Roma