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Dark current spectroscopy of transition metals in CMOS image sensors

pubblicato su: ECS JOURNAL OF SOLID STATE SCIENCE AND TECHNOLOGY - 2017
Russo Felice, Nardone Giancarlo, Polignano Maria Luisa, D'Ercole Angelo, Pennella Fabrizio, Felice Massimo Di, Monte Andrea Del, Matarazzo Antonio, Moccia Giuseppe, Polsinelli Gianpaolo, D'Angelo Antonio, Liverani Massimo, Irrera Fernanda

Univariate power analysis attacks exploiting static dissipation of nanometer CMOS VLSI circuits for cryptographic applications

pubblicato su: IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING - 2017
Bellizia Davide, Bongiovanni Simone, Monsurro' Pietro, Trifiletti Alessandro, Scotti Giuseppe

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