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Correlation between in situ structural and optical characterization of the semiconductor-to-metal phase transition of VO2 thin films on sapphire

pubblicato su: NANOSCALE - 2020
Cesca T., Scian C., Petronijevic E., Leahu G., Li Voti R., Cesarini G., Macaluso R., Mosca M., Sibilia C., Mattei G.

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