Spectroscopy and Microscopy of Superconductors and emerging funcional materials

Descrizione

Il gruppo di ricerca si occupa dello studio della struttura locale e della struttura elettronica dei superconduttori emergenti e di altri materiali funzionali. Obiettivo della ricerca è lo studio del rapporto struttura-funzione e il controllo delle proprietà funzionali attraverso la manipolazione delle strutture a livello nanoscopico. Il laboratorio è dotato di un sistema di ultra alto vuoto per le misure spettroscopiche con elettroni (XPS, UPS). I materiali sono caratterizzati per la morfologia mediante microscopia a forza atomica (AFM). Il laboratorio è attrezzato per le misurazioni di conducibilità complessa al variare della temperatura utilizzando 'Heliox3' per lo studio della transizione superconduttiva e delle fluttuazioni superconduttive.

Tipologia
Elettronico, Fisico, Materia condensata, Nanotecnologico
Attività
10%
90%
0%
Dipartimento o centro ospitante
Altro personale docente e di ricerca
  • Gaetano Campi [CNR]

Strumenti e attrezzature
Nome Descrizione Servizi Offerti Tipologia
06231 - Strumenti da laboratorio (agitatori, piastre riscaldanti, centrifughe, autoclavi, ecc) piastra riscaldante
06232 - Bombole Bombole (1 50 Lt Azoto ed altra 14 Lt He) Bombole
06233 - Apparecchiature in pressione (compressori, bombole, ecc) bombole (1 50 Lt Azoto ed altra 14 Lt He) Per il sistema UHV. Apparecchiature in pressione (compressori, bombole, ecc)
06234 - PC PC acquisizione dati ed analisi. PC
06235 - PC in rete locale LAN PC acquisizione ed analisi dati. PC
06238 - Altri strumenti analitici Heliox3 Il sistema viene utilizzato per le misure di conducibilità complessa al variare della temperatura. Altri strumenti analitici
06236 - Altri strumenti analitici Sistema UHV per la spettroscopia di fotoemissione Il sistema UHV viene utilizzato per la spettroscopia di fotoemissione. Il sistema è attrezzato anche con una camera MBE pre la crescita dei campioni. Altri strumenti analitici
06237 - Altri strumenti analitici AFM Attrezzatura viene utilizzata per lo studio morfologico dei materiali tramite microscopia e spettroscopia a forza atomica. l'AFM (AFM-Park-XE-120) è attrezzato anche per le misure STM (scanning tunneling microscopy) per i materiali conduttori. Altri strumenti analitici
Ubicazione
Nome Stanza Edificio Piano
Laboratorio UHV - S16 CU013 PS1
S14 CU013 PS1

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