Electron Microscopies and Nanoscopies - EMINA

Descrizione
Tipologia
Nanotecnologico, Prove materiali, Strumentale
Attività
5%
90%
5%
ERC scientific sector
PE2_6, PE2_15, PE3_4, PE3_10, PE3_5
KET
Nanotechnologies, Advanced materials
Strumenti e attrezzature
Nome Descrizione Servizi Offerti Tipologia
TEM HITACHI H7100 Transmission Electron Microscope Attrezzature principali per la ricerca (piccole/medie/grandi attrezzature)
SPM Solver PRO (NT-MDT) Tip-scan scanning probe microscopy (SPM) system. Among the different features, the system is equipped with contact resonance atomic force microscopy (CR-AFM) for nanomechanical mapping of sample surfaces. Attrezzature principali per la ricerca (piccole/medie/grandi attrezzature)
SPM Solver P47 PRO (NT-MDT) Sample-scan scanning probe microscopy (SPM) system. Among the other features, the system enables SPM analysis both in air and in liquid. Attrezzature principali per la ricerca (piccole/medie/grandi attrezzature)
STM Solver PRO (NT-MDT) Scanning tunneling microscopy (STM) system. Attrezzature principali per la ricerca (piccole/medie/grandi attrezzature)
Piattaforma PLD (Pulsed Laser Deposition) equipaggiata con laser ad eccimeri Camera UHV (Ultra-High-vacuum) equipaggiata con laser ad eccimeri, dotata di un sistema di immissione gas e riscaldatore (fino a 1100°C) Attrezzature principali per la ricerca (piccole/medie/grandi attrezzature)
Ubicazione
Nome Stanza Edificio Piano
L008 RM008 PS1
L021 RM008 PS1
L022 RM008 PS1
L001 RM011 PTE
L002 RM011 PTE
L003 RM011 PTE
L004 RM011 PTE
L005 RM011 PTE
Galleria
Head of the tip-scan SPM system. Head of the sample-scan SPM system.Head of the STM system.

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