Electron Microscopies and Nanoscopies - EMINA
Descrizione
Tipologia
Nanotecnologico, Prove materiali, Strumentale
Attività
5%
90%
5%
Responsabile
Nome | Struttura | |
Marco Rossi | marco.rossi@uniroma1.it | DIPARTIMENTO DI SCIENZE DI BASE ED APPLICATE PER L'INGEGNERIA |
ERC scientific sector
PE2_6, PE2_15, PE3_4, PE3_10, PE3_5
Dipartimento o centro ospitante
Personale docente e di ricerca
KET
Nanotechnologies, Advanced materials
Strumenti e attrezzature
Nome | Descrizione | Servizi Offerti | Tipologia |
TEM HITACHI H7100 Transmission Electron Microscope | Attrezzature principali per la ricerca (piccole/medie/grandi attrezzature) | ||
SPM Solver PRO (NT-MDT) | Tip-scan scanning probe microscopy (SPM) system. Among the different features, the system is equipped with contact resonance atomic force microscopy (CR-AFM) for nanomechanical mapping of sample surfaces. | Attrezzature principali per la ricerca (piccole/medie/grandi attrezzature) | |
SPM Solver P47 PRO (NT-MDT) | Sample-scan scanning probe microscopy (SPM) system. Among the other features, the system enables SPM analysis both in air and in liquid. | Attrezzature principali per la ricerca (piccole/medie/grandi attrezzature) | |
STM Solver PRO (NT-MDT) | Scanning tunneling microscopy (STM) system. | Attrezzature principali per la ricerca (piccole/medie/grandi attrezzature) | |
Piattaforma PLD (Pulsed Laser Deposition) equipaggiata con laser ad eccimeri | Camera UHV (Ultra-High-vacuum) equipaggiata con laser ad eccimeri, dotata di un sistema di immissione gas e riscaldatore (fino a 1100°C) | Attrezzature principali per la ricerca (piccole/medie/grandi attrezzature) |