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Ottimizzazione Evolutiva di un Modello Affine per la Caratterizzazione della Vulnerabilità nelle Smart Grids

pubblicato su: Memorie - XXXIV Riunione Nazionale dei Ricercatori di Elettrotecnica - 2018

Rizzi Antonello, DE SANTIS Enrico, Paschero Maurizio, FRATTALE MASCIOLI Fabio Massimo

CATALOGO IRIS SAPIENZA

Anno

2018 (1) Apply 2018 filter

Tipo pubblicazione

04 Pubblicazione in atti di convegno (1) Apply 04 Pubblicazione in atti di convegno filter

Rivista

Book

Memorie - XXXIV Riunione Nazionale dei Ricercatori di Elettrotecnica (1) Apply Memorie - XXXIV Riunione Nazionale dei Ricercatori di Elettrotecnica filter

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