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Long-wave infrared emissivity characterization of vanadium dioxide-based multilayer structure on silicon substrate by temperature-dependent radiometric measurements

pubblicato su: INFRARED PHYSICS & TECHNOLOGY - 2018

Cesarini Gianmario, Leahu Grigore, Li Voti Roberto, Sibilia Concita

CATALOGO IRIS SAPIENZA

Anno

2018 (1) Apply 2018 filter

Tipo pubblicazione

01 Pubblicazione su rivista (1) Apply 01 Pubblicazione su rivista filter

Rivista

INFRARED PHYSICS & TECHNOLOGY (1) Apply INFRARED PHYSICS & TECHNOLOGY filter

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