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IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
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On the Stability of Amorphous Silicon Temperature Sensors

pubblicato su: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES - 2020

Lovecchio N., Caputo D., Costantini F., Di Meo V., Nascetti A., De Cesare G.

On border traps in back-side-illuminated CMOS image sensor oxides

pubblicato su: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES - 2020

Vici A., Russo F., Lovisi N., Irrera F.

CATALOGO IRIS SAPIENZA

Anno

2020 (2) Apply 2020 filter

Tipo pubblicazione

01 Pubblicazione su rivista (2) Apply 01 Pubblicazione su rivista filter

Rivista

(-) Remove IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES filter IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

Book

Keywords

amorphous silicon (1) Apply amorphous silicon filter
Back-side illuminated (BSI) CMOS image sensors (CISs) (1) Apply Back-side illuminated (BSI) CMOS image sensors (CISs) filter
gate oxide border traps (1) Apply gate oxide border traps filter
lab-on-chip (LoC) (1) Apply lab-on-chip (LoC) filter
TDDS (1) Apply TDDS filter
thin-film temperature sensor (1) Apply thin-film temperature sensor filter

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