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IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
gate oxide border traps
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On border traps in back-side-illuminated CMOS image sensor oxides
pubblicato su:
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES - 2020
Vici A., Russo F., Lovisi N.,
Irrera F.
© Università degli Studi di Roma "La Sapienza" - Piazzale Aldo Moro 5, 00185 Roma
