Pubblicazioni
2018 - JOURNAL OF COLLOID AND INTERFACE SCIENCE
Fratoddi, Ilaria; Cartoni, Antonella; Venditti, Iole; Catone, Daniele; O'Keeffe, Patrick; Paladini, Alessandra; Toschi, Francesco; Turchini, Stefano; Sciubba, Fabio; Testa, Giovanna; Battocchio, Chiara; Carlini, Laura; Proietti Zaccaria, Remo; Magnano, Elena; Pis, Igor; Avaldi, Lorenzo
2018 - SENSORS AND ACTUATORS. B, CHEMICAL
Bollella, Paolo; Fusco, Giovanni; Stevar, DANIELA ANDRADA; Gorton, Lo; Ludwig, Roland; Ma, Su; Boer, Harry; Koivula, Anu; Tortolini, Cristina; Favero, Gabriele; Antiochia, Riccarda; Mazzei, Franco
2018 - PHYSICAL REVIEW. B
Lupo, Cosimo; Ricci-Tersenghi, Federico
2018 - SENSORS AND ACTUATORS. B, CHEMICAL
Rizzo, Riccardo; Alvaro, Maria; Danz, Norbert; Napione, Lucia; Descrovi, Emiliano; Schmieder, Stefan; Sinibaldi, Alberto; Chandrawati, Rona; Rana, Subinoy; Munzert, Peter; Schubert, Thomas; Maillart, Emmanuel; Anopchenko, Aleksei; Rivolo, Paola; Mascioletti, Alessandro; Sonntag, Frank; Stevens, Molly M.; Bussolino, Federico; Michelotti, Francesco
2018 - ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS
Giorgianni, Flavio; Vicario, Carlo; Shalaby, Mostafa; Tenuzzo, Lorenzo Donato; Marcelli, Augusto; Zhang, Tengfei; Zhao, Kai; Chen, Yongsheng; Hauri, Christoph; Lupi, Stefano
2018 - JOURNAL OF MAGNETISM AND MAGNETIC MATERIALS
Petrillo, C.; Postorino, P.; Orecchini, A.; Sacchetti, F.
2018 - NATURE PHOTONICS
Giordani, Taira; Flamini, Fulvio; Pompili, Matteo; Viggianiello, Niko; Spagnolo, Nicolò; Crespi, Andrea; Osellame, Roberto; Wiebe, Nathan; Walschaers, Mattia; Buchleitner, Andreas; Sciarrino, Fabio
2018 - JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA
Dash, S.; Kajita, T.; Yoshino, T.; Saini, N. L.; Katsufuji, T.; Mizokawa, T.
2018 - PHYSICAL REVIEW. B
Maeda, M.; Yamamoto, K.; Mizokawa, T.; Saini, N. L.; Arita, M.; Namatame, H.; Taniguchi, M.; Tan, G.; Zhao, L. D.; Kanatzidis, M. G.
2018 - PHYSICAL REVIEW. B
Dash, S.; Kajita, T.; Okawa, M.; Saitoh, T.; Ikenaga, E.; Saini, N. L.; Katsufuji, T.; Mizokawa, T.
2018 - CHEMICAL COMMUNICATIONS
Tsurumaki, Akiko; Ohno, Hiroyuki
2018 - PHYSICAL REVIEW. B
Nucara, A.; Corasaniti, M.; Kalaboukhov, A.; Ortolani, M.; Falsetti, E.; Sambri, A.; Miletto Granozio, F.; Capitani, F.; Brubach, J. -B.; Roy, P.; Schade, U.; Calvani, P.
2018 - JOURNAL OF MICROMECHANICS AND MICROENGINEERING
Crescenzi, Rocco; Balucani, Marco; Belfiore, Nicola Pio
2018 - 2017 IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series on Advanced Materials and Processes for RF and THz Applications, IMWS-AMP 2017
Baccarelli, Paolo; Comite, Davide; Burghignoli, Paolo; Galli, Alessandro
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Trappe, N.; Bucher, M.; De Bernardis, P.; Delabrouille, J.; Deo, P.; De Petris, M.; Doherty, S.; Ghribi, A.; Gradziel, M.; Kuzmin, L.; Maffei, B.; Masi, S.; Murphy, J. A.; Noviello, F.; O'Sullivan, C.; Pagano, L.; Piacentini, F.; Piat, M.; Pisano, G.; Robinson, M.; Stompor, R.; Tartari, A.; Traini, A.; Van Der Vorst, M.; Verhoeve, P.; Zhu, C.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Rossi, Marco; Wallmersperger, Thomas; Ramirez, Jorge Alejandro; Nardinocchi, Paola
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Burke, D.; Gayer, D.; Kalinauskaite, E.; O'Sullivan, C.; Murphy, J. D.; Scully, S. P.; De Petris, M.; De Leo, M.; Mennella, A.; Torchinsky, S. A.; Zannoni, M.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D. G.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvac, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E. F.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Alessandro, G.; D'Agostino, R.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; Di Donato, A.; Drilien, A. -A.; Dumoulin, Louis; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa-Lerena, M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M. L.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Holtzer, N.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A. L.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Lande, J.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, Bruno; Marnieros, S.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A. J.; Mcculloch, M. A.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S. J.; Mundo, L.; Montier, L.; Murphy, J. A.; Néel, D.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M. R.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Rigaut, O.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Spinelli, S. M.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P. T.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, G. S.; Tucker, C. E.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
May, A. J.; Chapron, C.; Coppi, G.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Masi, S.; Melhuish, S.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Schillaci, A.; Thermeau, J. -P.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvacq, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Mattei, A.; Mcculloch, M. A.; Medina, M. C.; Mele, L.; Mennella, A.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; O'Sullivan, C.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Scóccola, C. G.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Timbie, P.; Torchinsky, S. A.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganó, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Salatino, M.; Bélier, B.; Chapron, C.; Hoang, D. T.; Maestre, S.; Marnieros, S.; Marty, W.; Montier, L.; Piat, M.; Prêle, D.; Rambaud, D.; Thermeau, J. P.; Torchinsky, S. A.; Henrot-Versillé, S.; Voisin, F.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvacq, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A. J.; Mcculloch, M. A.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S.; Mennella, A.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; O'Sullivan, C.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Puddu, R.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Timbie, P.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Watson, B.; Wicek, F.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
O'Sullivan, C.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvacq, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A.; Mcculloch, M.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S.; Mennella, A.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P.; Torchinsky, S. A.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
O'Sullivan, C.; Burke, D.; Gayer, D.; Murphy, J. D.; Scully, S.; De Leo, M.; De Petris, M.; Mattei, A.; Zullo, A.; Mennella, A.; Zannoni, M.; Bleurvacq, N.; Chapron, C.; Hamilton, J. -Ch.; Piat, M.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Masi, S.; May, A.; Mcculloch, M.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P.; Torchinsky, S. A.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.
2018 - 2017 16th International Superconductive Electronics Conference, ISEC 2017
Paiella, A.; Battistelli, E. S.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Lamagna, L.; Masi, S.; Piacentini, F.; Castellano, M. G.; Colantoni, I.; Gordon, S.; Mauskopf, P.
2018 - Optics InfoBase Conference Papers
Flammini, Mariano; DI DOMENICO, Giuseppe; Pierangeli, Davide; DI MEI, Fabrizio; Agranat, Aharon J.; DEL RE, Eugenio
2018 - PHYSICAL REVIEW. B
Terashima, K.; Paris, E.; Simonelli, L.; Salas-Colera, E.; Puri, A.; Wakita, T.; Yamada, Y.; Nakano, S.; Idei, H.; Kudo, K.; Nohara, M.; Muraoka, Y.; Mizokawa, T.; Yokoya, T.; Saini, N. L.
2018 - MICROSYSTEM TECHNOLOGIES
Swati, R. F.; Wen, L. H.; Elahi, Hassan; Khan, A. A.; Shad, S.