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Polarized Raman mapping and phase-transition by CW excitation for fast purely optical characterization of VO2 thin films

2024 - SCIENTIFIC REPORTS
Mussi, V.; Bovino, F. A.; Falsini, R.; Daloiso, D.; Lupo, F. V.; Kunjumon, R.; Voti, R. L.; Cesca, T.; Macaluso, R.; Sibilia, C.; Mattei, G.

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