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Imaging shape and strain in nanoscale engineered semiconductors for photonics by coherent x-ray diffraction

2020 - COMMUNICATIONS MATERIALS
Berenguer, Felisa; Pettinari, Giorgio; Felici, Marco; Balakrishnan, Nilanthy; Clark, Jesse N.; Ravy, Sylvain; Patané, Amalia; Polimeni, Antonio; Ciatto, Gianluca

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