Pubblicazioni
2020 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Murphy, J. D.; Burke, D.; Gamboa Lerena, M. M.; Hamilton, J. -C.; Mousset, L.; De Petris, M.; Osullivan, C.; Torchinsky, S. A.; Ade, P.; Alberro, J. G.; Almela, A.; Amico, G.; Arnaldi, L. H.; Auguste, D.; Aumont, J.; Azzoni, S.; Banfi, S.; Belier, B.; Battistelli, E. S.; Bau, A.; Bennett, D.; Berge, L.; De Bernardis, P.; Bernard, J. -P.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bunn, E.; Buzi, D.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Cobos Cerutti, A. C.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; D'Alessandro, G.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; Dheilly, S.; Duca, C.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Ferreyro, L. P.; Fracchia, D.; Franceschet, C.; Ganga, K. M.; Garcia, B.; Garcia Redondo, M. E.; Gaspard, M.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Gilles, V.; Giraud-Heraud, Y.; Grandsire, L.; Gomez Berisso, M.; Gonzalez, M.; Gradziel, M.; Hampel, M. R.; Harari, D.; Henrot-Versille, S.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Marty, W.; Mattei, A.; May, A.; McCulloch, M.; Mele, L.; Masi, S.; Melo, D.; Mennella, A.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Nati, F.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perciballi, M.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Platino, M.; Polenta, G.; Prele, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Rasztocky, E.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salum, J. M.; Scoccola, C.; Schillaci, A.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stankowiak, G.; Stolpovskiy, M.; Supanitsky, A. D.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P.; Tomasi, M.; Tucker, G.; Tucker, C.; Vigano, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Wicek, F.; Wright, M.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2020 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Stankowiak, G.; Piat, M.; Battistelli, E. S.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Petris, M. D.; Gonzalez, M.; Grandsire, L.; Hamilton, J. Ch.; Hoang, T. D.; Masi, S.; Marnieros, S.; Mennella, A.; Mousset, L.; O'Sullivan, C.; Prele, D.; Tartari, A.; Thermeau, J. P.; Torchinsky, S. A.; Voisin, F.; Zannoni, M.; Ade, P.; Alberro, J. G.; Almela, A.; Amico, G.; Arnaldi, L. H.; Auguste, D.; Aumont, J.; Azzoni, S.; Banff, S.; Belier, B.; Baffu, A.; Bennett, D.; Berge, L.; Bernard, J. -P.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Cerutti, A. C. C.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; De Gasperis, G.; Leo, M. D.; Dheilly, S.; Duca, C.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Ferreyro, L. P.; Fracchia, D.; Franceschet, C.; Lerena, M. M. G.; Ganga, K. M.; Garcia, B.; Redondo, M. E. G.; Gaspard, M.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Gilles, V.; Giraud-Heraud, Y.; Berisso, M. G.; Gradziel, M.; Hampel, M. R.; Harari, D.; Henrot-Versille, S.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Maffei, B.; Marty, W.; Mattei, A.; May, A.; McCulloch, M.; Mele, L.; Melo, D.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; Nati, F.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perciballi, M.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Platino, M.; Polenta, G.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Rasztocky, E.; Salum, J. M.; Schillaci, A.; Scoccola, C.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Supanitsky, A. D.; Timbie, P.; Tomasi, M.; Tucker, G.; Tucker, C.; Vigano, D.; Vittorio, N.; Wicek, F.; Wright, M.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Burke, D.; Gayer, D.; Kalinauskaite, E.; O'Sullivan, C.; Murphy, J. D.; Scully, S. P.; De Petris, M.; De Leo, M.; Mennella, A.; Torchinsky, S. A.; Zannoni, M.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D. G.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvac, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E. F.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Alessandro, G.; D'Agostino, R.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; Di Donato, A.; Drilien, A. -A.; Dumoulin, Louis; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa-Lerena, M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M. L.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Holtzer, N.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A. L.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Lande, J.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, Bruno; Marnieros, S.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A. J.; Mcculloch, M. A.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S. J.; Mundo, L.; Montier, L.; Murphy, J. A.; Néel, D.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M. R.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Rigaut, O.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Spinelli, S. M.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P. T.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, G. S.; Tucker, C. E.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
O'Sullivan, C.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvacq, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A.; Mcculloch, M.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S.; Mennella, A.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P.; Torchinsky, S. A.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
O'Sullivan, C.; Burke, D.; Gayer, D.; Murphy, J. D.; Scully, S.; De Leo, M.; De Petris, M.; Mattei, A.; Zullo, A.; Mennella, A.; Zannoni, M.; Bleurvacq, N.; Chapron, C.; Hamilton, J. -Ch.; Piat, M.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Masi, S.; May, A.; Mcculloch, M.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P.; Torchinsky, S. A.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.
2016 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Johnson, B. R.; Flanigan, D.; Abitbol, M. H.; Ade, P. A. R.; Bryan, S.; Cho, H. -M.; Datta, R.; Day, P.; Doyle, S.; Irwin, K.; Jones, G.; Kernasovskiy, S.; Li, D.; Mauskopf, P.; Mccarrick, H.; Mcmahon, J.; Miller, A.; Pisano, G.; Song, Y.; Surdi, H.; Tucker, C.