Pubblicazioni
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Trappe, N.; Bucher, M.; De Bernardis, P.; Delabrouille, J.; Deo, P.; De Petris, M.; Doherty, S.; Ghribi, A.; Gradziel, M.; Kuzmin, L.; Maffei, B.; Masi, S.; Murphy, J. A.; Noviello, F.; O'Sullivan, C.; Pagano, L.; Piacentini, F.; Piat, M.; Pisano, G.; Robinson, M.; Stompor, R.; Tartari, A.; Traini, A.; Van Der Vorst, M.; Verhoeve, P.; Zhu, C.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Rossi, Marco; Wallmersperger, Thomas; Ramirez, Jorge Alejandro; Nardinocchi, Paola
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Burke, D.; Gayer, D.; Kalinauskaite, E.; O'Sullivan, C.; Murphy, J. D.; Scully, S. P.; De Petris, M.; De Leo, M.; Mennella, A.; Torchinsky, S. A.; Zannoni, M.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D. G.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvac, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E. F.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Alessandro, G.; D'Agostino, R.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; Di Donato, A.; Drilien, A. -A.; Dumoulin, Louis; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa-Lerena, M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M. L.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Holtzer, N.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A. L.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Lande, J.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, Bruno; Marnieros, S.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A. J.; Mcculloch, M. A.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S. J.; Mundo, L.; Montier, L.; Murphy, J. A.; Néel, D.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M. R.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Rigaut, O.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Spinelli, S. M.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P. T.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, G. S.; Tucker, C. E.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
May, A. J.; Chapron, C.; Coppi, G.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Masi, S.; Melhuish, S.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Schillaci, A.; Thermeau, J. -P.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvacq, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Mattei, A.; Mcculloch, M. A.; Medina, M. C.; Mele, L.; Mennella, A.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; O'Sullivan, C.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Scóccola, C. G.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Timbie, P.; Torchinsky, S. A.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganó, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Salatino, M.; Bélier, B.; Chapron, C.; Hoang, D. T.; Maestre, S.; Marnieros, S.; Marty, W.; Montier, L.; Piat, M.; Prêle, D.; Rambaud, D.; Thermeau, J. P.; Torchinsky, S. A.; Henrot-Versillé, S.; Voisin, F.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvacq, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A. J.; Mcculloch, M. A.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S.; Mennella, A.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; O'Sullivan, C.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Puddu, R.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Timbie, P.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Watson, B.; Wicek, F.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
O'Sullivan, C.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvacq, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A.; Mcculloch, M.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S.; Mennella, A.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P.; Torchinsky, S. A.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
O'Sullivan, C.; Burke, D.; Gayer, D.; Murphy, J. D.; Scully, S.; De Leo, M.; De Petris, M.; Mattei, A.; Zullo, A.; Mennella, A.; Zannoni, M.; Bleurvacq, N.; Chapron, C.; Hamilton, J. -Ch.; Piat, M.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Masi, S.; May, A.; Mcculloch, M.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P.; Torchinsky, S. A.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Danz, Norbert; Sinibaldi, Alberto; Allegretti, Matteo; Sepe, Elisabetta; Munzert, Peter; Giacomini, Patrizio; Michelotti, Francesco
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Sekimoto, Y.; Ade, P.; Arnold, K.; Aumont, J.; Austermann, J.; Baccigalupi, C.; Banday, A.; Banerji, R.; Basak, S.; Beckman, S.; Bersanelli, M.; Borrill, J.; Boulanger, F.; Brown, M. L.; Bucher, M.; Calabrese, E.; Casas, F. J.; Challinor, A.; Chinone, Y.; Columbro, F.; Cukierman, A.; Curtis, D.; De Bernardis, P.; De Petris, M.; Dobbs, M.; Dotani, T.; Duband, L.; Duval, J. M.; Ducout, A.; Ebisawa, K.; Elleot, T.; Eriksen, H.; Errard, J.; Flauger, R.; Franceschet, C.; Fuskeland, U.; Ganga, K.; Gao, R. J.; Ghigna, T.; Grain, J.; Gruppuso, A.; Halverson, N.; Hargrave, P.; Hasebe, T.; Hasegawa, M.; Hattori, M.; Hazumi, M.; Henrot-Versille, S.; Hill, C.; Hirota, Y.; Hivon, E.; Hoang, T. D.; Hubmayr, J.; Ichiki, K.; Imada, H.; Ishino, H.; Jaehnig, G.; Kanai, H.; Kashima, S.; Kataoka, Y.; Katayama, N.; Kawasaki, T.; Keskitalo, R.; Kibayashi, A.; Kikuchi, T.; Kimura, K.; Kisner, T.; Kobayashi, Y.; Kogiso, N.; Kohri, K.; Komatsu, E.; Komatsu, K.; Konishi, K.; Krachmalnicoff, N.; Kuo, L. C.; Kurinsky, N.; Kushino, A.; Lamagna, L.; Lee, T. A.; Linder, E.; Maffei, B.; Maki, M.; Mangilli, A.; Martinez-Gonzalez, E.; Masi, S.; Matsumura, T.; Mennella, A.; Minami, Y.; Mistuda, K.; Molinari, D.; Montier, L.; Morgante, G.; Mot, B.; Murata, Y.; Murphy, A.; Nagai, M.; Nagata, R.; Nakamura, S.; Namikawa, T.; Natoli, P.; Nishibori, T.; Nishino, H.; Noviello, F.; O'Sullivan, C.; Ochi, H.; Ogawa, H.; Ogawa, H.; Ohsaki, H.; Ohta, I.; Okada, N.; Patanchon, G.; Piacentini, F.; Pisano, G.; Polenta, G.; Poletti, D.; Puglisi, G.; Raum, C.; Realini, S.; Remazeilles, M.; Sakurai, H.; Sakurai, Y.; Savini, G.; Sherwin, B.; Shinozaki, K.; Shiraishi, M.; Signorelli, G.; Smecher, G.; Stompor, R.; Sugai, H.; Sugiyama, S.; Suzuki, A.; Suzuki, J.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takakura, S.; Taylor, E.; Terao, Y.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Tomasi, M.; Tomida, H.; Trappe, N.; Tristram, M.; Tsuji, M.; Tsujimoto, M.; Uozumi, S.; Utsunomiya, S.; Vittorio, N.; Watanabe, N.; Wehus, I.; Westbrook, B.; Winter, B.; Yamamoto, R.; Yamasaki, N.; Yanagisawa, M.; Yoshida, T.; Yumoto, J.; Zannoni, M.; Zonca, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Cesarini, G.; Leahu, G. L.; Li Voti, R.; Sibilia, C.; Bertolotti, M.
2017 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Crespi, Andrea; Osellame, Roberto; Ramponi, Roberta; Bentivegna, Marco; Flamini, Fulvio; Spagnolo, Nicolò; Viggianiello, Niko; Innocenti, Luca; Mataloni, Paolo; Sciarrino, Fabio
2016 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Bonifazi, Giuseppe; Serranti, Silvia; Capobianco, Giuseppe; Agresti, G.; Calienno, L.; Picchio, R.; Lo Monaco, A.; Santamaria, U.; Pelosi, C.