Pubblicazioni
2020 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Murphy, J. D.; Burke, D.; Gamboa Lerena, M. M.; Hamilton, J. -C.; Mousset, L.; De Petris, M.; Osullivan, C.; Torchinsky, S. A.; Ade, P.; Alberro, J. G.; Almela, A.; Amico, G.; Arnaldi, L. H.; Auguste, D.; Aumont, J.; Azzoni, S.; Banfi, S.; Belier, B.; Battistelli, E. S.; Bau, A.; Bennett, D.; Berge, L.; De Bernardis, P.; Bernard, J. -P.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bunn, E.; Buzi, D.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Cobos Cerutti, A. C.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; D'Alessandro, G.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; Dheilly, S.; Duca, C.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Ferreyro, L. P.; Fracchia, D.; Franceschet, C.; Ganga, K. M.; Garcia, B.; Garcia Redondo, M. E.; Gaspard, M.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Gilles, V.; Giraud-Heraud, Y.; Grandsire, L.; Gomez Berisso, M.; Gonzalez, M.; Gradziel, M.; Hampel, M. R.; Harari, D.; Henrot-Versille, S.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Marty, W.; Mattei, A.; May, A.; McCulloch, M.; Mele, L.; Masi, S.; Melo, D.; Mennella, A.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Nati, F.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perciballi, M.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Platino, M.; Polenta, G.; Prele, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Rasztocky, E.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salum, J. M.; Scoccola, C.; Schillaci, A.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stankowiak, G.; Stolpovskiy, M.; Supanitsky, A. D.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P.; Tomasi, M.; Tucker, G.; Tucker, C.; Vigano, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Wicek, F.; Wright, M.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Lourie, N. P.; Ade, P. A. R.; Angile, F. E.; Ashton, P. C.; Austermann, J. E.; Devlin, M. J.; Dober, B.; Galitzki, N.; Gao, J.; Gordon, S.; Groppi, C. E.; Klein, J.; Hilton, G. C.; Hubmayr, J.; Li, D.; Lowe, I.; Mani, H.; Mauskopf, P.; McKenney, C. M.; Nati, F.; Novak, G.; Pascale, E.; Pisano, G.; Sinclair, A.; Soler, J. D.; Tucker, C.; Ullom, J. N.; Vissers, M.; Williams, P. A.
2016 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Galitzki, N.; Ade, P.; Angile, F. E.; Ashton, P.; Austermann, J.; Billings, T.; Che, G.; Cho, H. -M.; Davis, K.; Devlin, M.; Dicker, S.; Dober, B. J.; Fissel, L. M.; Fukui, Y.; Gao, J.; Gordon, S.; Groppi, C. E.; Hillbrand, S.; Hilton, G. C.; Hubmayr, J.; Irwin, K. D.; Klein, J.; Li, D.; Li, Z. -Y.; Lourie, N. P.; Lowe, I.; Mani, H.; Martin, P. G.; Mauskopf, P.; Mckenney, C.; Nati, F.; Novak, G.; Pascale, E.; Pisano, G.; Santos, F. P.; Scott, D.; Sinclair, A.; Soler, J. D.; Tucker, C.; Underhill, M.; Vissers, M.; Williams, P.