Salta al contenuto principale
Ricerc@Sapienza
Toggle navigation
Home
Login
Home
Communications in Computer and Information Science
VHDL
Risultati ricerca pubblicazioni
Risultati ricerca pubblicazioni
Cerca
Torna alla Home Page delle pubblicazioni
LEADER: Leakage currents estimation technique for aging degradation aware 16 nm CMOS circuits
pubblicato su:
Communications in Computer and Information Science - 2019
Abbas Z., Zahra A.,
Olivieri M.
© Università degli Studi di Roma "La Sapienza" - Piazzale Aldo Moro 5, 00185 Roma