Strumenti e software per la modellazione e analisi 3D e per il rilievo tridimensionale e il monitoraggio di strutture e aree naturali
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Nel Laboratorio di Materiali e Strutture, nato circa un secolo fa come Laboratorio dell'Istituto di Scienza delle Costruzioni, si effettuano, sia a scopo di ricerca sia di supporto alla didattica, prove statiche e dinamiche, monotone e cicliche di caratterizzazione meccanica e R&D di materiali tradizionali ed innovativi, di comportamento strutturale e sismico di modelli/sottosistemi strutturali e non-strutturali a supporto di valutazioni di vulnerabilità, definizione di strategie e tecniche di rinforzo del costruito.
Il Laboratorio Materiali e Strutture, nato nei primi anni sessanta come Laboratorio dell'Istituto di Scienza e Tecnica delle Costruzioni, svolge la sua attività nel campo della didattica, con esercitazioni di supporto ai corsi e svolgimento di tesi di laurea; nel campo scientifico, a supporto della ricerca sperimentale su materiali e modelli; nel campo dei servizi rivolti a soggetti pubblici o privati, fornendo analisi delle caratteristiche meccaniche ed eventuale relativa certificazione ufficiale di materiali e prototipi nel campo delle costruzioni civili e industriali.
PESCA platform consists in the combination of AFM (with nm resolution) with an electrochemical set-up. This combination affords simultaneous acquisition of different
types of images (topological activity of electrified surface and correlation with applied electrical potential) unveiling fundamental interfacial properties at nm range
La vibrometria Laser Doppler è, al momento, il metodo che offre la migliore risoluzione in velocità e spostamento ed è utilizzato in innumerevoli campi di ricerca teorica e applicata e di ricerca e sviluppo. Consente di ottenere risoluzione in spostamento dell’ordine dei femtometro (10-15 metri) e di indagare campi di frequenza fino a 1 GHz. Le proprietà della vibrometria Laser Doppler sono indipendenti dalla distanza di misura per cui questa tecnologia viene utilizzata sia in applicazioni con microscopio, sia a grandi distanze.
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