Pubblicazioni
2020 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Gallone, G.; Varma, K.; Pados, D. A.; Colonnese, S.
2020 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Belardini, A.; Petronijevic, E.; Leahu, G.; Cesca, T.; Scian, C.; Pandolfi, F.; Mattei, G.; Mattiello, L.; Sibilia, C.
2020 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Bianchi, S.; Carmona Sosa, V.; Vizsnyiczai, G.; DI Leonardo, R.
2020 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Montier, L.; Mot, B.; De Bernardis, P.; Maffei, B.; Pisano, G.; Columbro, F.; Gudmundsson, J. E.; Henrot-Versille, S.; Lamagna, L.; Montgomery, J.; Prouve, T.; Russell, M.; Savini, G.; Stever, S.; Thompson, K. L.; Tsujimoto, M.; Tucker, C.; Westbrook, B.; Ade, P. A. R.; Adler, A.; Allys, E.; Arnold, K.; Auguste, D.; Aumont, J.; Aurlien, R.; Austermann, J.; Baccigalupi, C.; Banday, A. J.; Banerji, R.; Barreiro, R. B.; Basak, S.; Beall, J.; Beck, D.; Beckman, S.; Bermejo, J.; Bersanelli, M.; Bonis, J.; Borrill, J.; Boulanger, F.; Bounissou, S.; Brilenkov, M.; Brown, M.; Bucher, M.; Calabrese, E.; Campeti, P.; Carones, A.; Casas, F. J.; Challinor, A.; Chan, V.; Cheung, K.; Chinone, Y.; Cliche, J. F.; Colombo, L.; Cubas, J.; Cukierman, A.; Curtis, D.; D'alessandro, G.; Dachlythra, N.; De Petris, M.; Dickinson, C.; Diego-Palazuelos, P.; Dobbs, M.; Dotani, T.; Duband, L.; Duff, S.; Duval, J. M.; Ebisawa, K.; Elleflot, T.; Eriksen, H. K.; Errard, J.; Essinger-Hileman, T.; Finelli, F.; Flauger, R.; Franceschet, C.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Ganga, K.; Gao, J. R.; Genova-Santos, R.; Gerbino, M.; Gervasi, M.; Ghigna, T.; Gjerlow, E.; Gradziel, M. L.; Grain, J.; Grupp, F.; Gruppuso, A.; De Haan, T.; Halverson, N. W.; Hargrave, P.; Hasebe, T.; Hasegawa, M.; Hattori, M.; Hazumi, M.; Herman, D.; Herranz, D.; Hill, C. A.; Hilton, G.; Hirota, Y.; Hivon, E.; Hlozek, R. A.; Hoshino, Y.; De La Hoz, E.; Hubmayr, J.; Ichiki, K.; Iida, T.; Imada, H.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Jaehnig, G.; Kaga, T.; Kashima, S.; Katayama, N.; Kato, A.; Kawasaki, T.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Kobayashi, Y.; Kogiso, N.; Kogut, A.; Kohri, K.; Komatsu, E.; Komatsu, K.; Konishi, K.; Krachmalnicoff, N.; Kreykenbohm, I.; Kuo, C. L.; Kushino, A.; Lanen, J. V.; Lattanzi, M.; Lee, A. T.; Leloup, C.; Levrier, F.; Linder, E.; Louis, T.; Luzzi, G.; Maciaszek, T.; Maino, D.; Maki, M.; Mandelli, S.; Martinez-Gonzalez, E.; Masi, S.; Matsumura, T.; Mennella, A.; Migliaccio, M.; Minami, Y.; Mitsuda, K.; Morgante, G.; Murata, Y.; Murphy, J. A.; Nagai, M.; Nagano, Y.; Nagasaki, T.; Nagata, R.; Nakamura, S.; Namikawa, T.; Natoli, P.; Nerval, S.; Nishibori, T.; Nishino, H.; O'sullivan, C.; Ogawa, H.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Ohsaki, H.; Ohta, I. S.; Okada, N.; Okada, N.; Pagano, L.; Paiella, A.; Paoletti, D.; Patanchon, G.; Peloton, J.; Piacentini, F.; Polenta, G.; Poletti, D.; Puglisi, G.; Rambaud, D.; Raum, C.; Realini, S.; Reinecke, M.; Remazeilles, M.; Ritacco, A.; Roudil, G.; Rubino-Martin, J. A.; Sakurai, H.; Sakurai, Y.; Sandri, M.; Sasaki, M.; Scott, D.; Seibert, J.; Sekimoto, Y.; Sherwin, B.; Shinozaki, K.; Shiraishi, M.; Shirron, P.; Signorelli, G.; Smecher, G.; Stompor, R.; Sugai, H.; Sugiyama, S.; Suzuki, A.; Suzuki, J.; Svalheim, T. L.; Switzer, E.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takakura, S.; Takase, Y.; Takeda, Y.; Tartari, A.; Taylor, E.; Terao, Y.; Thommesen, H.; Thorne, B.; Toda, T.; Tomasi, M.; Tominaga, M.; Trappe, N.; Tristram, M.; Tsuji, M.; Ullom, J.; Vermeulen, G.; Vielva, P.; Villa, F.; Vissers, M.; Vittorio, N.; Wehus, I.; Weller, J.; Wilms, J.; Winter, B.; Wollack, E. J.; Yamasaki, N. Y.; Yoshida, T.; Yumoto, J.; Zannoni, M.; Zonca, A.
2020 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Murphy, J. D.; Burke, D.; Gamboa Lerena, M. M.; Hamilton, J. -C.; Mousset, L.; De Petris, M.; Osullivan, C.; Torchinsky, S. A.; Ade, P.; Alberro, J. G.; Almela, A.; Amico, G.; Arnaldi, L. H.; Auguste, D.; Aumont, J.; Azzoni, S.; Banfi, S.; Belier, B.; Battistelli, E. S.; Bau, A.; Bennett, D.; Berge, L.; De Bernardis, P.; Bernard, J. -P.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bunn, E.; Buzi, D.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Cobos Cerutti, A. C.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; D'Alessandro, G.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; Dheilly, S.; Duca, C.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Ferreyro, L. P.; Fracchia, D.; Franceschet, C.; Ganga, K. M.; Garcia, B.; Garcia Redondo, M. E.; Gaspard, M.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Gilles, V.; Giraud-Heraud, Y.; Grandsire, L.; Gomez Berisso, M.; Gonzalez, M.; Gradziel, M.; Hampel, M. R.; Harari, D.; Henrot-Versille, S.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Marty, W.; Mattei, A.; May, A.; McCulloch, M.; Mele, L.; Masi, S.; Melo, D.; Mennella, A.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Nati, F.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perciballi, M.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Platino, M.; Polenta, G.; Prele, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Rasztocky, E.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salum, J. M.; Scoccola, C.; Schillaci, A.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stankowiak, G.; Stolpovskiy, M.; Supanitsky, A. D.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P.; Tomasi, M.; Tucker, G.; Tucker, C.; Vigano, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Wicek, F.; Wright, M.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2020 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Stankowiak, G.; Piat, M.; Battistelli, E. S.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Petris, M. D.; Gonzalez, M.; Grandsire, L.; Hamilton, J. Ch.; Hoang, T. D.; Masi, S.; Marnieros, S.; Mennella, A.; Mousset, L.; O'Sullivan, C.; Prele, D.; Tartari, A.; Thermeau, J. P.; Torchinsky, S. A.; Voisin, F.; Zannoni, M.; Ade, P.; Alberro, J. G.; Almela, A.; Amico, G.; Arnaldi, L. H.; Auguste, D.; Aumont, J.; Azzoni, S.; Banff, S.; Belier, B.; Baffu, A.; Bennett, D.; Berge, L.; Bernard, J. -P.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Cerutti, A. C. C.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; De Gasperis, G.; Leo, M. D.; Dheilly, S.; Duca, C.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Ferreyro, L. P.; Fracchia, D.; Franceschet, C.; Lerena, M. M. G.; Ganga, K. M.; Garcia, B.; Redondo, M. E. G.; Gaspard, M.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Gilles, V.; Giraud-Heraud, Y.; Berisso, M. G.; Gradziel, M.; Hampel, M. R.; Harari, D.; Henrot-Versille, S.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Maffei, B.; Marty, W.; Mattei, A.; May, A.; McCulloch, M.; Mele, L.; Melo, D.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; Nati, F.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perciballi, M.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Platino, M.; Polenta, G.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Rasztocky, E.; Salum, J. M.; Schillaci, A.; Scoccola, C.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Supanitsky, A. D.; Timbie, P.; Tomasi, M.; Tucker, G.; Tucker, C.; Vigano, D.; Vittorio, N.; Wicek, F.; Wright, M.; Zullo, A.
2020 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Sekimoto, Y.; Ade, P. A. R.; Adler, A.; Allys, E.; Arnold, K.; Auguste, D.; Aumont, J.; Aurlien, R.; Austermann, J.; Baccigalupi, C.; Banday, A. J.; Banerji, R.; Barreiro, R. B.; Basak, S.; Beall, J.; Beck, D.; Beckman, S.; Bermejo, J.; De Bernardis, P.; Bersanelli, M.; Bonis, J.; Borrill, J.; Boulanger, F.; Bounissou, S.; Brilenkov, M.; Brown, M.; Bucher, M.; Calabrese, E.; Campeti, P.; Carones, A.; Casas, F. J.; Challinor, A.; Chan, V.; Cheung, K.; Chinone, Y.; Cliche, J. F.; Colombo, L.; Columbro, F.; Cubas, J.; Cukierman, A.; Curtis, D.; D'Alessandro, G.; Dachlythra, N.; De Petris, M.; Dickinson, C.; Diego-Palazuelos, P.; Dobbs, M.; Dotani, T.; Duband, L.; Duff, S.; Duval, J. M.; Ebisawa, K.; Elleflot, T.; Eriksen, H. K.; Errard, J.; Essinger-Hileman, T.; Finelli, F.; Flauger, R.; Franceschet, C.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Ganga, K.; Gao, J. R.; Genova-Santos, R.; Gerbino, M.; Gervasi, M.; Ghigna, T.; Gjerlow, E.; Gradziel, M. L.; Grain, J.; Grupp, F.; Gruppuso, A.; Gudmundsson, J. E.; De Haan, T.; Halverson, N. W.; Hargrave, P.; Hasebe, T.; Hasegawa, M.; Hattori, M.; Hazumi, M.; Henrot-Versille, S.; Herman, D.; Herranz, D.; Hill, C. A.; Hilton, G.; Hirota, Y.; Hivon, E.; Hlozek, R. A.; Hoshino, Y.; De La Hoz, E.; Hubmayr, J.; Ichiki, K.; Iida, T.; Imada, H.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Jaehnig, G.; Kaga, T.; Kashima, S.; Katayama, N.; Kato, A.; Kawasaki, T.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Kobayashi, Y.; Kogiso, N.; Kogut, A.; Kohri, K.; Komatsu, E.; Komatsu, K.; Konishi, K.; Krachmalnicoff, N.; Kreykenbohm, I.; Kuo, C. L.; Kushino, A.; Lamagna, L.; Lanen, J. V.; Lattanzi, M.; Lee, A. T.; Leloup, C.; Levrier, F.; Linder, E.; Louis, T.; Luzzi, G.; MacIaszek, T.; Maffei, B.; Maino, D.; Maki, M.; Mandelli, S.; Martinez-Gonzalez, E.; Masi, S.; Matsumura, T.; Mennella, A.; Migliaccio, M.; Minami, Y.; Mitsuda, K.; Montgomery, J.; Montier, L.; Morgante, G.; Mot, B.; Murata, Y.; Murphy, J. A.; Nagai, M.; Nagano, Y.; Nagasaki, T.; Nagata, R.; Nakamura, S.; Namikawa, T.; Natoli, P.; Nerval, S.; Nishibori, T.; Nishino, H.; O Sullivan, C.; Ogawa, H.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Ohsaki, H.; Ohta, I. S.; Okada, N.; Okada, N.; Pagano, L.; Paiella, A.; Paoletti, D.; Patanchon, G.; Peloton, J.; Piacentini, F.; Pisano, G.; Polenta, G.; Poletti, D.; Prouve, T.; Puglisi, G.; Rambaud, D.; Raum, C.; Realini, S.; Reinecke, M.; Remazeilles, M.; Ritacco, A.; Roudil, G.; Rubino-Martin, J. A.; Russell, M.; Sakurai, H.; Sakurai, Y.; Sandri, M.; Sasaki, M.; Savini, G.; Scott, D.; Seibert, J.; Sherwin, B.; Shinozaki, K.; Shiraishi, M.; Shirron, P.; Signorelli, G.; Smecher, G.; Stever, S.; Stompor, R.; Sugai, H.; Sugiyama, S.; Suzuki, A.; Suzuki, J.; Svalheim, T. L.; Switzer, E.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takakura, S.; Takase, Y.; Takeda, Y.; Tartari, A.; Taylor, E.; Terao, Y.; Thommesen, H.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Toda, T.; Tomasi, M.; Tominaga, M.; Trappe, N.; Tristram, M.; Tsuji, M.; Tsujimoto, M.; Tucker, C.; Ullom, J.; Vermeulen, G.; Vielva, P.; Villa, F.; Vissers, M.; Vittorio, N.; Wehus, I.; Weller, J.; Westbrook, B.; Wilms, J.; Winter, B.; Wollack, E. J.; Yamasaki, N. Y.; Yoshida, T.; Yumoto, J.; Zannoni, M.; Zonca, A.