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2020 - 33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2020
Barbirotta, M.; Mastrandrea, A.; Menichelli, F.; Vigli, F.; Blasi, L.; Cheikh, A.; Sordillo, S.; Di Gennaro, F.; Olivieri, M.