Pubblicazioni
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Sekimoto, Y.; Ade, P.; Arnold, K.; Aumont, J.; Austermann, J.; Baccigalupi, C.; Banday, A.; Banerji, R.; Basak, S.; Beckman, S.; Bersanelli, M.; Borrill, J.; Boulanger, F.; Brown, M. L.; Bucher, M.; Calabrese, E.; Casas, F. J.; Challinor, A.; Chinone, Y.; Columbro, F.; Cukierman, A.; Curtis, D.; De Bernardis, P.; De Petris, M.; Dobbs, M.; Dotani, T.; Duband, L.; Duval, J. M.; Ducout, A.; Ebisawa, K.; Elleot, T.; Eriksen, H.; Errard, J.; Flauger, R.; Franceschet, C.; Fuskeland, U.; Ganga, K.; Gao, R. J.; Ghigna, T.; Grain, J.; Gruppuso, A.; Halverson, N.; Hargrave, P.; Hasebe, T.; Hasegawa, M.; Hattori, M.; Hazumi, M.; Henrot-Versille, S.; Hill, C.; Hirota, Y.; Hivon, E.; Hoang, T. D.; Hubmayr, J.; Ichiki, K.; Imada, H.; Ishino, H.; Jaehnig, G.; Kanai, H.; Kashima, S.; Kataoka, Y.; Katayama, N.; Kawasaki, T.; Keskitalo, R.; Kibayashi, A.; Kikuchi, T.; Kimura, K.; Kisner, T.; Kobayashi, Y.; Kogiso, N.; Kohri, K.; Komatsu, E.; Komatsu, K.; Konishi, K.; Krachmalnicoff, N.; Kuo, L. C.; Kurinsky, N.; Kushino, A.; Lamagna, L.; Lee, T. A.; Linder, E.; Maffei, B.; Maki, M.; Mangilli, A.; Martinez-Gonzalez, E.; Masi, S.; Matsumura, T.; Mennella, A.; Minami, Y.; Mistuda, K.; Molinari, D.; Montier, L.; Morgante, G.; Mot, B.; Murata, Y.; Murphy, A.; Nagai, M.; Nagata, R.; Nakamura, S.; Namikawa, T.; Natoli, P.; Nishibori, T.; Nishino, H.; Noviello, F.; O'Sullivan, C.; Ochi, H.; Ogawa, H.; Ogawa, H.; Ohsaki, H.; Ohta, I.; Okada, N.; Patanchon, G.; Piacentini, F.; Pisano, G.; Polenta, G.; Poletti, D.; Puglisi, G.; Raum, C.; Realini, S.; Remazeilles, M.; Sakurai, H.; Sakurai, Y.; Savini, G.; Sherwin, B.; Shinozaki, K.; Shiraishi, M.; Signorelli, G.; Smecher, G.; Stompor, R.; Sugai, H.; Sugiyama, S.; Suzuki, A.; Suzuki, J.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takakura, S.; Taylor, E.; Terao, Y.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Tomasi, M.; Tomida, H.; Trappe, N.; Tristram, M.; Tsuji, M.; Tsujimoto, M.; Uozumi, S.; Utsunomiya, S.; Vittorio, N.; Watanabe, N.; Wehus, I.; Westbrook, B.; Winter, B.; Yamamoto, R.; Yamasaki, N.; Yanagisawa, M.; Yoshida, T.; Yumoto, J.; Zannoni, M.; Zonca, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Cesarini, G.; Leahu, G. L.; Li Voti, R.; Sibilia, C.; Bertolotti, M.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Mori, S.; Biscarini, M.; Marziani, A.; Marzano, F. S.; Pierdicca, N.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Muleri, F.; Lefevre, C.; Piazzolla, R.; Morbidini, A.; Amici, F.; Attina, P.; Centrone, M.; Del Monte, E.; DI Cosimo, S.; DI Persio, G.; Evangelista, Y.; Fabiani, S.; Ferrazzoli, R.; Loffredo, P.; Maiolo, L.; Maita, F.; Primicino, L.; Rankin, J.; Rubini, A.; Santoli, F.; Soffitta, P.; Tobia, A.; Tortosa, A.; Trois, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Tortosa, A.; Fabiani, S.; Soffitta, P.; Muleri, F.; Cirillo, M.; Ferrazzoli, R.; Rubini, A.; Tobia, A.; Trinca, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Pisano, G.; Shitvov, A.; Moseley, P.; Tucker, C.; Savini, G.; Ade, P.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Pisano, G.; Ng, R.; Zhu, C.; Tucker, C.; Ade, P.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Bryan, S.; Ade, P.; Bond, J. R.; Boulanger, F.; Devlin, M.; Doyle, S.; Filippini, J.; Fissel, L.; Groppi, C.; Holder, G.; Hubmayr, J.; Mauskopf, P.; McMahon, J.; Nagy, J.; Barth Netterfield, C.; Niemack, M.; Novak, G.; Pascale, E.; Pisano, G.; Ruhl, J.; Scott, D.; Soler, J.; Tucker, C.; Vieira, J.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Lourie, N. P.; Ade, P. A. R.; Angile, F. E.; Ashton, P. C.; Austermann, J. E.; Devlin, M. J.; Dober, B.; Galitzki, N.; Gao, J.; Gordon, S.; Groppi, C. E.; Klein, J.; Hilton, G. C.; Hubmayr, J.; Li, D.; Lowe, I.; Mani, H.; Mauskopf, P.; McKenney, C. M.; Nati, F.; Novak, G.; Pascale, E.; Pisano, G.; Sinclair, A.; Soler, J. D.; Tucker, C.; Ullom, J. N.; Vissers, M.; Williams, P. A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Thompson, J. A.; Pisano, G.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Pisano, G.; Shitvov, A.; Tucker, C.; Mugnai, D.; Bolli, P.; Olmi, L.; D'Agostino, F.; Migliozzi, M.; Orfei, A.; Navarrini, A.; Riminesi, C.; Maffei, B.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Mot, B.; Roudil, G.; Longval, Y.; Ade, P.; Andre, Y.; Aumont, J.; Baustista, L.; Bernard, J. -P.; Bray, N.; De Bernardis, P.; Boulade, O.; Bousquet, F.; Bouzit, M.; Buttice, V.; Caillat, A.; Charra, M.; Chaigneau, M.; Crane, B.; Crussaire, J. -P.; Douchin, F.; Doumayrou, E.; Dubois, J. -P.; Engel, C.; Etcheto, P.; Gelot, P.; Griffin, M.; Foenard, G.; Grabarnik, S.; Hargrave, P.; Hughes, A.; Laureijs, R.; Lepennec, Y.; Leriche, B.; Maestre, S.; Maffei, B.; Martignac, J.; Marty, C.; Marty, W.; Masi, S.; Mirc, F.; Misawa, R.; Montel, J.; Montier, L.; Narbonne, J.; Nicot, J. -P.; Pajot, F.; Parot, G.; Perot, E.; Pimentao, J.; Pisano, G.; Ponthieu, N.; Ristorcelli, I.; Rodriguez, L.; Salatino, M.; Savini, G.; Simonella, O.; Saccoccio, M.; Tapie, P.; Tauber, J.; Torre, J. -P.; Tucker, C.
2017 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Belardini, A.; Leahu, G.; Centini, M.; Li Voti, R.; Fazio, E.; Sibilia, C.; Repetto, D.; Buatier De Mongeot, F.
2017 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Vallières, Simon; Morabito, Antonia; Veltri, Simona; Scisciò, Massimiliano; Barberio, Marianna; Antici, Patrizio
2017 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Falconi, M. T.; Comite, D.; Galli, A.; Marzano, F. S.; Pastina, D.; Lombardo, P.
2017 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Crespi, Andrea; Osellame, Roberto; Ramponi, Roberta; Bentivegna, Marco; Flamini, Fulvio; Spagnolo, Nicolò; Viggianiello, Niko; Innocenti, Luca; Mataloni, Paolo; Sciarrino, Fabio
2017 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Wabnitz, Stefan; Hansson, Hans Evert Tobias; Leo, F.; Ricciardi, I.; De, Rosa; Coen, M.; Erkintalo, S.; M.,
2017 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Volpini, V.; Bardella, L.; Rodella, A.; Cha, Y.; Porfiri, M.
2017 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Ciampini, M. A.; Orieux, A.; Paesani, S.; Vigliar, C.; Cimini, V.; Corrielli, G.; Crespi, A.; Ramponi, R.; Osellame, R.; Paternostro, M.; Barbieri, M.; Mataloni, P.
2017 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Longval, Y.; Misawa, R.; Ade, P.; Andre, Y.; De Bernardis, P.; Bousquet, F.; Bouzit, M.; Buttice, V.; Charra, M.; Crane, B.; Dubois, J. P.; Engel, C.; Griffin, M.; Hargrave, P.; Leriche, B.; Maestre, S.; Marty, C.; Marty, W.; Masi, S.; Mot, B.; Narbonne, J.; Pajot, F.; Pisano, G.; Ponthieu, N.; Ristorcelli, I.; Rodriguez, L.; Roudil, G.; Simonella, O.; Salatino, M.; Savini, G.; Tucker, C.; Bernard, J. -P.
2017 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Frisenda, R.; Schmidt, R.; Michaelis De Vasconcellos, S.; Bratschitsch, R.; Perez De Lara, D.; Castellanos-Gomez, A.
2016 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Bonifazi, Giuseppe; Serranti, Silvia; Capobianco, Giuseppe; Agresti, G.; Calienno, L.; Picchio, R.; Lo Monaco, A.; Santamaria, U.; Pelosi, C.
2016 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Galitzki, N.; Ade, P.; Angile, F. E.; Ashton, P.; Austermann, J.; Billings, T.; Che, G.; Cho, H. -M.; Davis, K.; Devlin, M.; Dicker, S.; Dober, B. J.; Fissel, L. M.; Fukui, Y.; Gao, J.; Gordon, S.; Groppi, C. E.; Hillbrand, S.; Hilton, G. C.; Hubmayr, J.; Irwin, K. D.; Klein, J.; Li, D.; Li, Z. -Y.; Lourie, N. P.; Lowe, I.; Mani, H.; Martin, P. G.; Mauskopf, P.; Mckenney, C.; Nati, F.; Novak, G.; Pascale, E.; Pisano, G.; Santos, F. P.; Scott, D.; Sinclair, A.; Soler, J. D.; Tucker, C.; Underhill, M.; Vissers, M.; Williams, P.
2016 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Ishino, H.; Akiba, Y.; Arnold, K.; Barron, D.; Borrill, J.; Chendra, R.; Chinone, Y.; Cho, S.; Cukierman, A.; De Haan, T.; Dobbs, M.; Dominjon, A.; Dotani, T.; Elleflot, T.; Errard, J.; Fujino, T.; Fuke, H.; Funaki, T.; Goeckner-Wald, N.; Halverson, N.; Harvey, P.; Hasebe, T.; Hasegawa, M.; Hattori, K.; Hattori, M.; Hazumi, M.; Hidehira, N.; Hill, C.; Hilton, G.; Holzapfel, W.; Hori, Y.; Hubmayr, J.; Ichiki, K.; Imada, H.; Inatani, J.; Inoue, M.; Inoue, Y.; Irie, F.; Irwin, K.; Ishitsuka, H.; Jeong, O.; Kanai, H.; Karatsu, K.; Kashima, S.; Katayama, N.; Kawano, I.; Kawasaki, T.; Keating, B.; Kernasovskiy, S.; Keskitalo, R.; Kibayashi, A.; Kida, Y.; Kimura, N.; Kimura, K.; Kisner, T.; Kohri, K.; Komatsu, E.; Komatsu, K.; Kuo, C. -L.; Kuromiya, S.; Kusaka, A.; Lee, A.; Li, D.; Linder, E.; Maki, M.; Matsuhara, H.; Matsumura, T.; Matsuoka, S.; Matsuura, S.; Mima, S.; Minami, Y.; Mitsuda, K.; Nagai, M.; Nagasaki, T.; Nagata, R.; Nakajima, M.; Nakamura, S.; Namikawa, T.; Naruse, M.; Nishibori, T.; Nishijo, K.; Nishino, H.; Noda, A.; Noguchi, T.; Ogawa, H.; Ogburn, W.; Oguri, S.; Ohta, I.; Okada, N.; Okamoto, A.; Okamura, T.; Otani, C.; Pisano, G.; Rebeiz, G.; Richards, P.; Sakai, S.; Sakurai, Y.; Sato, Y.; Sato, N.; Segawa, Y.; Sekiguchi, S.; Sekimoto, Y.; Sekine, M.; Seljak, U.; Sherwin, B.; Shimizu, T.; Shinozaki, K.; Shu, S.; Stompor, R.; Sugai, H.; Sugita, H.; Suzuki, J.; Suzuki, T.; Suzuki, A.; Tajima, O.; Takada, S.; Takakura, S.; Takano, K.; Takatori, S.; Takei, Y.; Tanabe, D.; Tomaru, T.; Tomita, N.; Turin, P.; Uozumi, S.; Utsunomiya, S.; Uzawa, Y.; Wada, T.; Watanabe, H.; Westbrook, B.; Whitehorn, N.; Yamada, Y.; Yamamoto, R.; Yamasaki, N.; Yamashita, T.; Yoshida, T.; Yoshida, M.; Yotsumoto, K.