Pubblicazioni
2018 - INTERNATIONAL JOURNAL OF RF AND MICROWAVE COMPUTER-AIDED ENGINEERING
Ruvio, Giuseppe; Cavagnaro, Marta
2018 - INTERNATIONAL JOURNAL OF RF AND MICROWAVE COMPUTER-AIDED ENGINEERING
Toseroni, I.; Ciampa, S.; Cavagnaro, M.
2018 - INTERNATIONAL JOURNAL OF RF AND MICROWAVE COMPUTER-AIDED ENGINEERING
Ruvio, G.; Vaselli, M.; Lopresto, V.; Pinto, R.; Farina, L.; Cavagnaro, M.
2018 - IEEE TRANSACTIONS ON ANTENNAS AND PROPAGATION
Comite, Davide; Fuscaldo, Walter; Podilchak, Symon K.; Hilario Re, Pascual D.; Buendia, Victoria Gomez-Guillamon; Burghignoli, Paolo; Baccarelli, Paolo; Galli, Alessandro
2018 - SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY
Cardani, L.; Casali, N.; Cruciani, A.; le Sueur, H.; Martinez, M.; Bellini, F.; Calvo, M.; Castellano, M. G.; Colantoni, I.; Cosmelli, C.; DâAddabbo, A.; Di Domizio, S.; Goupy, J.; Minutolo, L.; Monfardini, A.; Vignati, M.
2018 - JOURNAL OF INFRARED, MILLIMETER, AND TERAHERTZ WAVES
Palma, Fabrizio; Rao, R.
2018 - AEÃ. INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRONICS AND COMMUNICATIONS
Avoli, Matteo; Centurelli, Francesco; Monsurrò, Pietro; Scotti, Giuseppe; Trifiletti, Alessandro
2018 - Advances in Computational Plasticity. Computational Methods in Applied Sciences, vol 46
Alessi, R.; Ambati, M.; Gerasimov, T.; Vidoli, S.; De Lorenzis, L.
2018 - IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
Mattei, I.; Battistoni, G.; De Simoni, M.; Dong, Y.; Embriaco, A.; Fischetti, M.; Giacometti, V.; Gioscio, E.; Magi, M.; Mancini-Terracciano, C.; Marafini, M.; Mirabelli, R.; Muraro, S.; Sarti, A.; Sciubba, A.; Camillocci, E. Solfaroli; Toppi, M.; Traini, G.; Valle, S. M.; Patera, V.
2018 - MECHATRONICS
Gaz, Claudio; Magrini, Emanuele; De Luca, Alessandro
2018 - IEEE TRANSACTIONS ON TERAHERTZ SCIENCE AND TECHNOLOGY
Ciano, Chiara; Flammini, Mariano; Giliberti, Valeria; Calvani, Paolo; Delre, Eugenio; Talarico, Fabio; Torre, Mauro; Missori, Mauro; Ortolani, Michele
2018 - JOURNAL OF MICROMECHANICS AND MICROENGINEERING
Crescenzi, Rocco; Balucani, Marco; Belfiore, Nicola Pio
2018 - IEEE INDUSTRY APPLICATIONS MAGAZINE
Sajjad, Intisar A.; Manganelli, Matteo; Martirano, Luigi; Napoli, Roberto; Chicco, Gianfranco; Parise, Giuseppe
2018 - ADVANCES IN ELECTRICAL AND ELECTRONIC ENGINEERING
Vo Tien, Dung; Gono, Radomir; Leonowicz, Zbigniew; Tran Duy, Trinh; Martirano, Luigi
2018 - IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS
Bellizia, Davide; Bongiovanni, Simone; Monsurrò, Pietro; Scotti, Giuseppe; Trifiletti, Alessandro; Trotta, Francesco Bruno
2018 - INTERNATIONAL JOURNAL OF MICROWAVE AND WIRELESS TECHNOLOGIES
Fuscaldo, Walter; Comite, Davide; Boesso, Alessandro; Baccarelli, Paolo; Burghignoli, Paolo; Galli, Alessandro
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Trappe, N.; Bucher, M.; De Bernardis, P.; Delabrouille, J.; Deo, P.; De Petris, M.; Doherty, S.; Ghribi, A.; Gradziel, M.; Kuzmin, L.; Maffei, B.; Masi, S.; Murphy, J. A.; Noviello, F.; O'Sullivan, C.; Pagano, L.; Piacentini, F.; Piat, M.; Pisano, G.; Robinson, M.; Stompor, R.; Tartari, A.; Traini, A.; Van Der Vorst, M.; Verhoeve, P.; Zhu, C.
2018 - SENSORS
Carotenuto, Benito; Ricciardi, Armando; Micco, Alberto; Amorizzo, Ezio; Mercieri, Marco; Cutolo, Antonello; Cusano, Andrea
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Rossi, Marco; Wallmersperger, Thomas; Ramirez, Jorge Alejandro; Nardinocchi, Paola
2018 - IET COMMUNICATIONS
Le, THI PHUONG MAI; Ferrante, Guido Carlo; Caso, Giuseppe; De Nardis, Luca; Di Benedetto, Maria-Gabriella
2018 - NONLINEAR DYNAMICS
Settimi, Valeria; Saetta, Eduardo; Rega, Giuseppe
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Burke, D.; Gayer, D.; Kalinauskaite, E.; O'Sullivan, C.; Murphy, J. D.; Scully, S. P.; De Petris, M.; De Leo, M.; Mennella, A.; Torchinsky, S. A.; Zannoni, M.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D. G.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvac, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E. F.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Alessandro, G.; D'Agostino, R.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; Di Donato, A.; Drilien, A. -A.; Dumoulin, Louis; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa-Lerena, M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M. L.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Holtzer, N.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A. L.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Lande, J.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, Bruno; Marnieros, S.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A. J.; Mcculloch, M. A.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S. J.; Mundo, L.; Montier, L.; Murphy, J. A.; Néel, D.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M. R.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Rigaut, O.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Spinelli, S. M.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P. T.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, G. S.; Tucker, C. E.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
May, A. J.; Chapron, C.; Coppi, G.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; Masi, S.; Melhuish, S.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Schillaci, A.; Thermeau, J. -P.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvacq, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Mattei, A.; Mcculloch, M. A.; Medina, M. C.; Mele, L.; Mennella, A.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; O'Sullivan, C.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Scóccola, C. G.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Timbie, P.; Torchinsky, S. A.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganó, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Salatino, M.; Bélier, B.; Chapron, C.; Hoang, D. T.; Maestre, S.; Marnieros, S.; Marty, W.; Montier, L.; Piat, M.; Prêle, D.; Rambaud, D.; Thermeau, J. P.; Torchinsky, S. A.; Henrot-Versillé, S.; Voisin, F.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvacq, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A. J.; Mcculloch, M. A.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S.; Mennella, A.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; O'Sullivan, C.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Puddu, R.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Timbie, P.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Watson, B.; Wicek, F.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2018 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
O'Sullivan, C.; Ade, P.; Amico, G.; Auguste, D.; Aumont, J.; Banfi, S.; Barbarán, G.; Battaglia, P.; Battistelli, E.; Baù, A.; Bélier, B.; Bennett, D.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; Bersanelli, M.; Bigot-Sazy, M. -A.; Bleurvacq, N.; Bonaparte, J.; Bonis, J.; Bordier, G.; Bréelle, E.; Bunn, E.; Burke, D.; Buzi, D.; Buzzelli, A.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Charlassier, R.; Columbro, F.; Coppi, G.; Coppolecchia, A.; Couchot, F.; D'Agostino, R.; D'Alessandro, G.; De Bernardis, P.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Di Donato, A.; Dumoulin, L.; Etchegoyen, A.; Fasciszewski, A.; Franceschet, C.; Gamboa Lerena, M. M.; GarcÃa, B.; Garrido, X.; Gaspard, M.; Gault, A.; Gayer, D.; Gervasi, M.; Giard, M.; Giraud-Héraud, Y.; Gómez Berisso, M.; González, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Guerrard, E.; Hamilton, J. -Ch.; Harari, D.; Haynes, V.; Henrot-Versillé, S.; Hoang, D. T.; Incardona, F.; Jules, E.; Kaplan, J.; Korotkov, A.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Loucatos, S.; Louis, T.; Lowitz, A.; Lukovic, V.; Luterstein, R.; Maffei, B.; Marnieros, S.; Masi, S.; Mattei, A.; May, A.; Mcculloch, M.; Medina, M. C.; Mele, L.; Melhuish, S.; Mennella, A.; Montier, L.; Mundo, L. M.; Murphy, J. A.; Murphy, J. D.; Olivieri, E.; Paiella, A.; Pajot, F.; Passerini, A.; Pastoriza, H.; Pelosi, A.; Perbost, C.; Perdereau, O.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Polenta, G.; Prêle, D.; Puddu, R.; Rambaud, D.; Ringegni, P.; Romero, G. E.; Salatino, M.; Schillaci, A.; Scóccola, C. G.; Scully, S.; Spinelli, S.; Stolpovskiy, M.; Suarez, F.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P.; Torchinsky, S. A.; Tristram, M.; Truongcanh, V.; Tucker, C.; Tucker, G.; Vanneste, S.; Viganò, D.; Vittorio, N.; Voisin, F.; Watson, B.; Wicek, F.; Zannoni, M.; Zullo, A.